[发明专利]双面电池制造方法有效
申请号: | 201680062244.X | 申请日: | 2016-10-25 |
公开(公告)号: | CN108352413B | 公开(公告)日: | 2021-11-02 |
发明(设计)人: | 纳夫塔利·保罗·艾森伯格;列弗·科瑞尼 | 申请(专利权)人: | 索拉昂德有限公司 |
主分类号: | H01L31/0216 | 分类号: | H01L31/0216;H01L31/0352;H01L21/225;H01L31/068;H01L31/18 |
代理公司: | 上海旭诚知识产权代理有限公司 31220 | 代理人: | 郑立;徐静杰 |
地址: | 以色列*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 双面 电池 制造 方法 | ||
1.一种生产双面光伏电池的方法,所述方法包括:
a)通过溅射硼和/或通过硼离子注入在半导体衬底的第二表面上形成含硼层;
b)在所述含硼层上方形成帽盖层;
c)在半导体衬底的第一表面上形成含n型掺杂剂层;
d)实现将所述n型掺杂剂和所述硼扩散到所述半导体衬底中,从而用所述n型掺杂剂掺杂所述第一表面并用所述硼掺杂所述第二表面;
e)通过纹理化去除所述第一表面上的n型掺杂层,以便伴随地去除其他地方存在的任何n型掺杂层;
f)去除所述帽盖层;
g)在所述第二表面上形成钝化和/或抗反射涂层;
h)用n型掺杂剂掺杂所述第一表面。
2.根据权利要求1所述的方法,其中所述含硼层的厚度在1 nm至35 nm的范围内。
3.根据权利要求1所述的方法,其中所述溅射硼使用氮化硼靶实现。
4.根据权利要求1所述的方法,其中所述硼离子注入的特征在于在1014个注入离子/平方厘米至1016个注入离子/平方厘米的范围内的剂量。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其中所述含硼层中的硼量的可变性不超过±5%。
6.根据权利要求1所述的方法,其中通过沉积物质实现形成所述帽盖层,所述物质选自由氧化硅、氮化硅和氮氧化硅组成的组。
7.根据权利要求1或6中任一项所述的方法,其中通过射频溅射实现形成所述帽盖层。
8.根据权利要求1或6中任一项所述的方法,其中所述帽盖层的厚度在5 nm至30 nm的范围内。
9.根据权利要求1所述的方法,其中用n型掺杂剂掺杂所述第一表面(步骤h)形成n+层,所述n+层的特征在于在70欧姆至150欧姆的范围内的薄层电阻。
10.根据权利要求1或9中任一项所述的方法,还包括在所述第一表面和所述第二表面中的每个上形成电触点。
11.根据权利要求10所述的方法,其中所述含硼层在所述第二表面的一些区域中具有较大的厚度,所述方法包括在所述第二表面的所述区域上选择性地形成电触点。
12.根据权利要求1或9中任一项所述的方法,其中所述半导体衬底是p型半导体。
13.根据权利要求1或9中任一项所述的方法,其中所述半导体衬底包含硅。
14.根据权利要求1或9中任一项所述的方法,还包括在所述第二表面上形成SiB层。
15.根据权利要求1或9中任一项所述的方法,还包括在所述第二表面的边缘上形成区域,通过在步骤(a)期间掩蔽所述区域,所述区域具有在0.1 mm至0.5 mm的范围内的宽度,所述区域基本上不含硼。
16.根据权利要求1或9中任一项所述的方法,还包括在所述第二表面的边缘上形成区域,通过在步骤(a)之后、任选地在步骤(b)之前蚀刻所述区域,所述区域具有在0.1 mm至0.5 mm的范围内的宽度,所述区域基本上不含硼。
17.根据权利要求16所述的方法,其中所述蚀刻所述区域通过反应离子蚀刻实现。
18.根据权利要求1或9中任一项所述的方法,其中同时实现所述n型掺杂剂的所述扩散和所述硼的所述扩散。
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