[发明专利]双面电池制造方法有效

专利信息
申请号: 201680062244.X 申请日: 2016-10-25
公开(公告)号: CN108352413B 公开(公告)日: 2021-11-02
发明(设计)人: 纳夫塔利·保罗·艾森伯格;列弗·科瑞尼 申请(专利权)人: 索拉昂德有限公司
主分类号: H01L31/0216 分类号: H01L31/0216;H01L31/0352;H01L21/225;H01L31/068;H01L31/18
代理公司: 上海旭诚知识产权代理有限公司 31220 代理人: 郑立;徐静杰
地址: 以色列*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 双面 电池 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种生产双面光伏电池的方法,所述方法包括:

a)通过溅射硼和/或通过硼离子注入在半导体衬底的第二表面上形成含硼层;

b)在所述含硼层上方形成帽盖层;

c)在半导体衬底的第一表面上形成含n型掺杂剂层;

d)实现将所述n型掺杂剂和所述硼扩散到所述半导体衬底中,从而用所述n型掺杂剂掺杂所述第一表面并用所述硼掺杂所述第二表面;

e)通过纹理化去除所述第一表面上的n型掺杂层,以便伴随地去除其他地方存在的任何n型掺杂层;

f)去除所述帽盖层;

g)在所述第二表面上形成钝化和/或抗反射涂层;

h)用n型掺杂剂掺杂所述第一表面。

2.根据权利要求1所述的方法,其中所述含硼层的厚度在1 nm至35 nm的范围内。

3.根据权利要求1所述的方法,其中所述溅射硼使用氮化硼靶实现。

4.根据权利要求1所述的方法,其中所述硼离子注入的特征在于在1014个注入离子/平方厘米至1016个注入离子/平方厘米的范围内的剂量。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其中所述含硼层中的硼量的可变性不超过±5%。

6.根据权利要求1所述的方法,其中通过沉积物质实现形成所述帽盖层,所述物质选自由氧化硅、氮化硅和氮氧化硅组成的组。

7.根据权利要求1或6中任一项所述的方法,其中通过射频溅射实现形成所述帽盖层。

8.根据权利要求1或6中任一项所述的方法,其中所述帽盖层的厚度在5 nm至30 nm的范围内。

9.根据权利要求1所述的方法,其中用n型掺杂剂掺杂所述第一表面(步骤h)形成n+层,所述n+层的特征在于在70欧姆至150欧姆的范围内的薄层电阻。

10.根据权利要求1或9中任一项所述的方法,还包括在所述第一表面和所述第二表面中的每个上形成电触点。

11.根据权利要求10所述的方法,其中所述含硼层在所述第二表面的一些区域中具有较大的厚度,所述方法包括在所述第二表面的所述区域上选择性地形成电触点。

12.根据权利要求1或9中任一项所述的方法,其中所述半导体衬底是p型半导体。

13.根据权利要求1或9中任一项所述的方法,其中所述半导体衬底包含硅。

14.根据权利要求1或9中任一项所述的方法,还包括在所述第二表面上形成SiB层。

15.根据权利要求1或9中任一项所述的方法,还包括在所述第二表面的边缘上形成区域,通过在步骤(a)期间掩蔽所述区域,所述区域具有在0.1 mm至0.5 mm的范围内的宽度,所述区域基本上不含硼。

16.根据权利要求1或9中任一项所述的方法,还包括在所述第二表面的边缘上形成区域,通过在步骤(a)之后、任选地在步骤(b)之前蚀刻所述区域,所述区域具有在0.1 mm至0.5 mm的范围内的宽度,所述区域基本上不含硼。

17.根据权利要求16所述的方法,其中所述蚀刻所述区域通过反应离子蚀刻实现。

18.根据权利要求1或9中任一项所述的方法,其中同时实现所述n型掺杂剂的所述扩散和所述硼的所述扩散。

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