[发明专利]利用红外分光法的含氟聚合物的分析

说明书

本发明公开一种对含有含氟表面处理剂的物品进行分析的方法，该分析方法中，通过使用傅里叶变换红外分光计(FT‑IR)的红外全反射衰减法(IR‑ATR法)求出含氟表面处理剂所具有的氟代烷基的碳原子数，其中，含氟表面处理剂含有含氟聚合物作为有效成分，含氟聚合物具有源自式：CH₂＝C(－X)－C(＝O)－Y－Z－Rf[式中，X为氢原子、一价的有机基团或卤素原子，Y为－O－或－NH－，Z为直接键合或二价的有机基团，Rf为碳原子数1～20的氟代烷基。]所示的含氟单体的重复单元。提供一种简便地求出含有以含氟聚合物为有效成分的含氟表面处理剂的物品中的氟代烷基的碳原子数的分析方法。

技术领域

本发明涉及利用红外全反射衰减法(IR-ATR法)求出以含氟聚合物为有效成分的含氟表面处理剂所具有的氟代烷基的碳原子数的分析法。

背景技术

提出了测定含氟有机化合物中的含氟烃链的表面偏析性的方法。

公开了通过利用XPS或使用轨道同步辐射的X射线吸收的方法而对试样进行局部分析的技术(例如，K Honda,M Morita,H Otsuka,A Takahara.Macromolecules 38(13),5699-5705(2005)和K.Honda,M.Morita,O.Sakata,S.Sasaki and A.Takahara,Macromolecules,43(1),454-460(2010).)

但是，存在装置大型且操作时间也很严格的制约，对于分析手头上的坯料试样而言存在很大的技术障碍。

在WO2015/020100中公开了一种方法，该方法收集拨水拨油加工加工后的纤维、衣服、纸等的加工品的小片，将对其进行加热得到的挥发成分用气相色谱进行分析，测定含氟有机化合物的碳原子数。但是，由于该方法对试样进行加热，所以有时使试样破损。

Takeshi Hasegawa et al.,“Stratified Dipole-Arrays Model Accountingfor Bulk Properties Specific to Perfluoroalkyl Compounds”,ChemPlusChem,79,1421-1425(2014)公开了利用IR-ATR法对全氟烷基化合物进行分析，测定全氟烷基的碳原子数的方法。但是，全氟烷基化合物是在十四烷酸中导入了全氟烷基而得到的CF₃(CF₂)_n－(CH₂)_12－n－COOH(n＝3,5,7,9)的小分子。另外，对于在金属基板上形成的单分子膜的试样进行测定。此外，该光谱对应于仅纵光学(Longitudinal optic)能量损失函数(LO函数)光谱的测定。

Takeshi Hasegawa et al.,“An Origin of Complicated Infrared Spectra ofPerfluoroalkyl Compounds Involving a Normal Alkyl Group”,Chemistry Letters,44,834-836(2015).和Takeshi Hasegawa,“Understanding of the intrinsicdifference between normal-and perfluoro-alkyl compounds toward totalunderstanding of material properties”,Chemical Physics Letters,627,64-66(2015)中也公开了全氟烷基化合物的分析方法。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：WO2015/020100

非专利文献

非专利文献1：K.Honda et al.Macromolecules 38(13),5699-5705(2005).