[发明专利]利用红外分光法的含氟聚合物的分析有效

专利信息
申请号: 201680035087.3 申请日: 2016-08-17
公开(公告)号: CN108283007B 公开(公告)日: 2021-08-27
发明(设计)人: 高桥可奈子;山本育男;长谷川健;下赤卓史 申请(专利权)人: 大金工业株式会社
主分类号: G01N21/3563 分类号: G01N21/3563;G01N21/552
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 龙淳;狄茜
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 利用 红外 分光 聚合物 分析
【权利要求书】:

1.一种对含有含氟表面处理剂的物品进行分析的方法,所述分析方法的特征在于:

通过使用傅里叶变换红外分光计(FT-IR)的红外全反射衰减法(IR-ATR法)求出含氟表面处理剂所具有的氟代烷基的碳原子数,

含氟表面处理剂含有含氟聚合物作为有效成分,含氟聚合物具有源自下式所示的含氟单体的重复单元,

式:

CH2=C(-X)-C(=O)-Y-Z-Rf

式中,X为氢原子、一价的有机基团或卤素原子,

Y为-O-或-NH-,

Z为直接键合或二价的有机基团,

Rf为碳原子数1~20的氟代烷基,

所述分析方法包括:

使用FT-IR通过红外全反射衰减法(IR-ATR法)得到试样的原始光谱的步骤;

利用Kramers-Kronig的关系式由原始光谱得到α光谱的步骤,其中,α=4πn”/λ,λ表示波长;

对α光谱进一步进行Kramers-Kronig变换,得到折射率n'的步骤;

其中,试样的双折射率n作为实部n'和虚部n的和以n=n'+in表示,

利用关系式ε=n2得到复介电常数函数,由此得到两个能量损失函数TO和LO函数的步骤,其中,ε表示试样的复介电常数;

TO:Im(ε),

LO:Im(-1/ε)

获得在TO和LO光谱中出现的CF2对称伸缩振动带的峰位置和相对强度,求出含氟表面处理剂所具有的氟代烷基的碳原子数的步骤。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于:

物品为含氟表面处理剂的膜,或者在选自纤维制品、石材、过滤器、防尘面罩、燃料电池的部件、玻璃、纸、木、皮革、毛皮、石棉、砖、水泥、金属和金属氧化物、陶瓷制品、塑料、涂布面和灰泥的基材之上具有含氟表面处理剂的层。

3.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于:

其使用入射角可变ATR装置。

4.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于:

将具有源自氟代烷基的碳原子数为4的含氟单体的重复单元的含氟聚合物作为标准试样。

5.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于:

Z为

直接键合、碳原子数1~20的直链亚烷基或支链状亚烷基、

或者

式-SO2N(R1)R2-或式-CON(R1)R2所示的基团,式中,R1为碳原子数1~10的烷基,R2为碳原子数1~10的直链亚烷基或支链状亚烷基,

或者

式-CH2CH(OR3)CH2-所示的基团,式中,R3表示氢原子或碳原子数1~10的酰基,

或者

式-Ar-CH2-所示的基团,式中,Ar为亚芳香基,

或者

-(CH2)m-SO2-(CH2)n-基或-(CH2)m-S-(CH2)n-基,其中,m为1~10,n为0~10,

Rf为碳原子数1~20的全氟烷基。

6.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于:

不进行不含有含氟表面处理剂的物品的IR-ATR测定,对含有含氟表面处理剂的物品进行分析。

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