[发明专利]利用红外分光法的含氟聚合物的分析有效
申请号: | 201680035087.3 | 申请日: | 2016-08-17 |
公开(公告)号: | CN108283007B | 公开(公告)日: | 2021-08-27 |
发明(设计)人: | 高桥可奈子;山本育男;长谷川健;下赤卓史 | 申请(专利权)人: | 大金工业株式会社 |
主分类号: | G01N21/3563 | 分类号: | G01N21/3563;G01N21/552 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳;狄茜 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 利用 红外 分光 聚合物 分析 | ||
1.一种对含有含氟表面处理剂的物品进行分析的方法,所述分析方法的特征在于:
通过使用傅里叶变换红外分光计(FT-IR)的红外全反射衰减法(IR-ATR法)求出含氟表面处理剂所具有的氟代烷基的碳原子数,
含氟表面处理剂含有含氟聚合物作为有效成分,含氟聚合物具有源自下式所示的含氟单体的重复单元,
式:
CH2=C(-X)-C(=O)-Y-Z-Rf
式中,X为氢原子、一价的有机基团或卤素原子,
Y为-O-或-NH-,
Z为直接键合或二价的有机基团,
Rf为碳原子数1~20的氟代烷基,
所述分析方法包括:
使用FT-IR通过红外全反射衰减法(IR-ATR法)得到试样的原始光谱的步骤;
利用Kramers-Kronig的关系式由原始光谱得到α光谱的步骤,其中,α=4πn”/λ,λ表示波长;
对α光谱进一步进行Kramers-Kronig变换,得到折射率n'的步骤;
其中,试样的双折射率n作为实部n'和虚部n的和以n=n'+in表示,
利用关系式ε=n2得到复介电常数函数,由此得到两个能量损失函数TO和LO函数的步骤,其中,ε表示试样的复介电常数;
TO:Im(ε),
LO:Im(-1/ε)
获得在TO和LO光谱中出现的CF2对称伸缩振动带的峰位置和相对强度,求出含氟表面处理剂所具有的氟代烷基的碳原子数的步骤。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于:
物品为含氟表面处理剂的膜,或者在选自纤维制品、石材、过滤器、防尘面罩、燃料电池的部件、玻璃、纸、木、皮革、毛皮、石棉、砖、水泥、金属和金属氧化物、陶瓷制品、塑料、涂布面和灰泥的基材之上具有含氟表面处理剂的层。
3.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于:
其使用入射角可变ATR装置。
4.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于:
将具有源自氟代烷基的碳原子数为4的含氟单体的重复单元的含氟聚合物作为标准试样。
5.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于:
Z为
直接键合、碳原子数1~20的直链亚烷基或支链状亚烷基、
或者
式-SO2N(R1)R2-或式-CON(R1)R2所示的基团,式中,R1为碳原子数1~10的烷基,R2为碳原子数1~10的直链亚烷基或支链状亚烷基,
或者
式-CH2CH(OR3)CH2-所示的基团,式中,R3表示氢原子或碳原子数1~10的酰基,
或者
式-Ar-CH2-所示的基团,式中,Ar为亚芳香基,
或者
-(CH2)m-SO2-(CH2)n-基或-(CH2)m-S-(CH2)n-基,其中,m为1~10,n为0~10,
Rf为碳原子数1~20的全氟烷基。
6.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于:
不进行不含有含氟表面处理剂的物品的IR-ATR测定,对含有含氟表面处理剂的物品进行分析。
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