[实用新型]基于ADC压差法实现GPS天线检测电路有效

专利信息
申请号: 201621340404.6 申请日: 2016-12-07
公开(公告)号: CN206223992U 公开(公告)日: 2017-06-06
发明(设计)人: 陈定锋;曾全良 申请(专利权)人: 上海通立信息科技有限公司
主分类号: G01S19/23 分类号: G01S19/23
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司31236 代理人: 郭国中
地址: 201108 上海市浦东新*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 基于 adc 压差法 实现 gps 天线 检测 电路
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及GPS天线检测硬件电路、ADC采样及检测算法的实现原理,具体是一种基于ADC压差法实现GPS天线检测电路。

背景技术

GPS天线作为一种外设接入到MCU引脚上,MCU根据GPS天线引脚上流过的电流变化来判断GPS天线是处于插入、拔出或者短路的哪种状态。

普通的GPS天线检测方法是将天线的电流变化转换成相对电压的变化,进而判断电压的变化量来确定GPS天线的状态,常用的GPS天线检测方法有两种。

1)电平判断法:将GPS天线上微弱的电压变化信号通过比较器转换成MCU能识别的高低电平数字信号,此方法的缺点在于只能判断出天线插入或者拔出两种状态,无法判断GPS天线短路的状态,而且因为元器件生产工艺的原因,不同PCBA中相应的元器件参数不可能一致(相同元器件的参数误差有1%~5%),从而导致比较电路的设计困难和检测的不稳定性。

2)ADC采样法:将GPS天线的电流变化转换成相对电压的变化,然后通过MCU的ADC引脚实时检测对应电压值,从而判断GPS天线的状态,此方法是电平判断法的改进版本,可以检测出GPS天线插入、拔出和短路三种状态,然而同样因为不同PCBA中相应的元器件参数不可能一致(相同元器件的参数误差有1%~5%),导致检测的不稳定性。经过实验证明,GPS天线在插入和断开时电流和电压的变化量非常小,小到变化量低于相同元器件的参数误差,结果导致检测根据不同PCBA需要修改不同的检测参数,非常的不方便,不利于生产。

实用新型内容

针对现有技术中的缺陷,本实用新型目的在于提供一种可以准确判断GPS天线的三种状态的基于ADC压差法实现GPS天线检测电路。

为解决上述技术问题,本实用新型提供一种基于ADC压差法实现GPS天线检测电路,包括:第一电阻R1,所述第一电阻R1的一端连接电源;第二电阻R2,所述第二电阻R2的一端与所述第一电阻R1的另一端连接,所述第二电阻R2的另一端接地;天线,所述天线的输入端连接在所述第一电阻R1和所述第二电阻R2之间;单片机,所述单片机的采样引脚与所述天线的输入端连接,所述单片机的外部基准电源引脚与所述电源连接。

优选地,所述单片机为新唐单片机NUC100。

优选地,所述天线为GPS天线。

优选地,所述电源的电压为3.3伏。

与现有技术相比,本实用新型具有以下优点:

1)可以准确地检测出GPS天线插入、拔出和短路三种状态。

2)检测方法不依赖于PCBA中相应的元器件参数误差。

附图说明

通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述,本实用新型的其它特征目的和优点将会变得更明显。

图1为本实用新型基于ADC压差法实现GPS天线检测电路原理图。

具体实施方式

下面结合具体实施例对本实用新型进行详细说明。以下实施例将有助于本领域的技术人员进一步理解本实用新型,但不以任何形式限制本实用新型。应当指出的是,对本领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型构思的前提下,还可以做出若干变化和改。

如图1所示,为了实现准确的检测出GPS天线插入、拔出和拔出三种状态,本实用新型基于ADC压差法实现GPS天线检测电路,分为以下几个部分。

天线输入端:当天线插入式,天线上微弱的电流流入第二电阻R2,流入R2的电流变大,则R2上端的电压Vp变大,则MCU中ADC采样值变大。当天线拔出时,Vp=V3.3×R2/(R1+R2),当天线短路时,Vp=0V,GPS天线的不同状态可以导致MCU中ADC采样值的不同。

系统V3.3电压:用于系统供电和MCUADC的外部基准电压。

R1、R2分压电阻:用来给ADC采样提供合适的分压。

MCUADC采样引脚(通道1):用来采样Vp点的电压值。

MCU内部基准电压V1.2:是有MCU自身提供的1.2V基准电压,相对于ADC外部基准电压Vref产生变化时,内部ADC通道(通道7)读出的V1.2始终是1.2V对应的ADC值。

R1表示第一电阻R1的阻值,R2表示第二电阻R2的阻值,Vp表示R1与R2间的电压值,Vpadc为Vp的电压采样ADC值,V3.3表示系统供电电压值和MCUADC外部基准电压值(受PCBA元器件参数误差而不确定),V3.3adc为V3.3的ADC采样值,V1.2为MCU内部基准电压值,V1.2adc为V1.2的ADC采样值。

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