[实用新型]一种测量绝缘子结构高度的装置有效

专利信息
申请号: 201621230497.7 申请日: 2016-11-16
公开(公告)号: CN206160894U 公开(公告)日: 2017-05-10
发明(设计)人: 孙晓瑜;邹显斌;陈子涵;葛梦昕;傅裕斌;樊友平 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: G01B5/02 分类号: G01B5/02
代理公司: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙)42222 代理人: 薛玲
地址: 430072 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 测量 绝缘子 结构 高度 装置
【权利要求书】:

1.一种测量绝缘子结构高度的装置,包括基座(1)、吊框(2),所述吊框(2)包括横梁(21)与立柱(22),所述横梁(21)与所述立柱(22)垂直,所述立柱(22)与所述基座(1)的底面垂直,所述立柱(22)上有测量刻度,其特征在于,所述横梁(21)上设置有悬挂件(3),所述悬挂件(3)包括连成一体的悬挂部(31)和连接部(32),所述悬挂部(31)与所测量的绝缘子(4)的钢脚的形状相同。

2.根据权利要求1所述测量绝缘子结构高度的装置,其特征在于,所述连接部(32)上有螺纹,所述连接部(32)与所述横梁(21)螺纹连接。

3.根据权利要求1所述测量绝缘子结构高度的装置,其特征在于,所述基座(1)上设有水平仪(11),所述基座(1)底部设有3个调平支脚(12)。

4.根据权利要求1所述测量绝缘子结构高度的装置,其特征在于,还包括测量件(5),所述测量件(5)包括吸附件(51)和指示件(52),所述吸附件(51)固定于所述指示件(52)的中间部位,所述测量件(5)可以通过所述吸附件(51)吸附于绝缘子上。

5.根据权利要求4所述测量绝缘子结构高度的装置,其特征在于,所述指示件(52)的中间部位还设置有水平仪(53)。

6.根据权利要求4所述测量绝缘子结构高度的装置,其特征在于,所述指示件(52)的中间部位还设置有凸部或者凹部,所述吸附件(51)设置于所述凸部或者凹部上。

7.根据权利要求4所述测量绝缘子结构高度的装置,其特征在于,所述吸附件(51)为吸盘。

8.根据权利要求4所述测量绝缘子结构高度的装置,其特征在于,所述吸附件(51)为永磁体。

9.根据权利要求4至8中任意一项所述测量绝缘子结构高度的装置,其特征在于,吊框(2)为门框形,所述立柱(22)至少有两个,所述立柱(22)分设于所述吊框(2)的两侧,其中至少一个立柱(22)上有测量刻度。

10.根据权利要求9所述测量绝缘子结构高度的装置,其特征在于,所述立柱(22)至少有两个,所述的两个立柱(22)上均有测量刻度,所述悬挂件(3)设置于所述横梁(21)的中部。

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