[实用新型]一种用于多点测量的数显高度测量装置有效

专利信息
申请号: 201620097114.7 申请日: 2016-01-29
公开(公告)号: CN205388468U 公开(公告)日: 2016-07-20
发明(设计)人: 柳兆学;盛加锋 申请(专利权)人: 上海庆良电子有限公司
主分类号: G01B21/02 分类号: G01B21/02
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 宣慧兰
地址: 201806 上海市嘉定*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 多点 测量 高度 装置
【权利要求书】:

1.一种用于多点测量的数显高度测量装置,包括底座(1)、支架(2)和测量机构,所述的支架(2)垂直于底座(1)设置,所述的测量机构固定于支架(2)上,其特征在于,所述的测量机构包括调节杆(3)、滑动杆(4)、测量探针(5)和数据处理显示单元(6),所述的调节杆(3)平行于底座(1)设置,其端部设有活动套接在支架(2)上的套接部,所述的滑动杆(4)平行于底座(1)设置,其一端滑动连接调节杆(3),所述的测量探针(5)垂直于底座(1)并连接滑动杆(4),所述的数据处理显示单元(6)连接测量探针(5)。

2.根据权利要求1所述的一种用于多点测量的数显高度测量装置,其特征在于,所述的套接部为一端开口的环形套接部,开口处通过固定螺栓固定。

3.根据权利要求1所述的一种用于多点测量的数显高度测量装置,其特征在于,所述的调节杆(3)上设有限位凹槽,所述的滑动杆(4)嵌入所述的限位凹槽进行滑动连接。

4.根据权利要求1所述的一种用于多点测量的数显高度测量装置,其特征在于,所述的数据处理显示单元(6)包括处理器和显示器,所述的处理器接收测量探针(5)数据并保存,同时将该数据发送至显示器进行显示。

5.根据权利要求4所述的一种用于多点测量的数显高度测量装置,其特征在于,所述的处理器为单片机。

6.根据权利要求4所述的一种用于多点测量的数显高度测量装置,其特征在于,所述的数据处理显示单元(6)还包括用于查询历史检测数据的查询按钮,所述的查询按钮连接所述的处理器。

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