[发明专利]利用UV光照的隐形眼镜缺陷检测在审
申请号: | 201611271119.8 | 申请日: | 2016-11-18 |
公开(公告)号: | CN106940306A | 公开(公告)日: | 2017-07-11 |
发明(设计)人: | S·斯莫尔贡;B·C·谭 | 申请(专利权)人: | 伊麦视觉私人有限公司 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G01N21/958 |
代理公司: | 北京戈程知识产权代理有限公司11314 | 代理人: | 程伟,王锦阳 |
地址: | 新加*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 利用 uv 光照 隐形眼镜 缺陷 检测 | ||
1.一种用于检测隐形眼镜镜片材料中的缺陷的系统,包括:
摄像机,其具有镜头和数字图像输出,用于检查悬浮在盐溶液中的所述镜片,其中,所述摄像机的数字图像输出仅包括由在这样的色谱中的光形成的图像,所述色谱对应于通过所述镜片的材料的荧光发射产生的光的光谱的一部分;
第一紫外光源,其用于照射所述镜片,并且在镜片中激发荧光发射;
第一滤光器,其用于过滤来自受到紫外光照射的镜片的发射光;以及
计算机,其具有相关联的存储器,用于接收来自所述摄像机的数字图像输出的输入,和表示经分析的数字图像的输出,其中所述经分析的数字图像包括对在所述镜片的材料中检测到的任何缺陷的可见标记。
2.根据权利要求1所述的用于检测隐形眼镜镜片材料中的缺陷的系统,其中所述光源包括紫外光发光二极管阵列。
3.根据权利要求2所述的用于检测隐形眼镜镜片材料中的缺陷的系统,其中所述紫外光发光二极管阵列围绕所述摄像机的镜头设置。
4.根据权利要求1所述的用于检测隐形眼镜镜片材料中的缺陷的系统,进一步包括选通控制器,所述选通控制器能够在与所述摄像机的图像采集的同步操作中对所述光源进行通电。
5.根据权利要求4所述的用于检测隐形眼镜镜片材料中的缺陷的系统,进一步包括选通控制器中的功能,其能够在与所述摄像机的图像采集的同步操作中利用不同的定时脉冲对所述光源进行通电。
6.一种用于检测具有荧光材料的镜片的材料中的缺陷的方法,包括下述步骤:
利用第一光谱中的光照射所述镜片,所述第一光谱设计成激发所述镜片的材料在第二光谱中的光的光发射;
采集所述镜片的图像,所述镜片的图像代表由所述镜片的材料的荧光发射所导致的第二光谱的光;
分析所述图像,以确定表示所述镜片中的缺陷的像素;以及
提供具有对所述镜片的材料中检测到的任何缺陷的可见标记的所述经分析的数字图像。
7.根据权利要求6所述的用于检测镜片材料中的缺陷的方法,进一步包括利用对比色标出所述数字图像中的任何缺陷。
8.根据权利要求7所述的用于检测镜片材料中的缺陷的方法,进一步包括标出所述数字图像中大于预定面积的任何缺陷。
9.根据权利要求7所述的用于检测镜片材料中的缺陷的方法,进一步包括标出所述数字图像中大于预定长度的任何缺陷。
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