[发明专利]直角测量工具以及直角测量方法

说明书

本发明公开了一种直角测量工具以及采用该直角测量工具的直角测量方法。直角测量工具包括底座平台、表座、挡块以及设置在表座上的千分表；底座平台的表面为平面，表座设置在底座平台的表面，挡块固定在表座的一侧。这种直角测量工具使用方便，可以在不占用机台的有效稼动时间的前提下完成直角测量，在一定程度上提高了生产效率。

技术领域

本发明涉及一种直角测量工具以及直角测量方法。

背景技术

具有直角结构的工件在生产过程中需要对直角结构进行测量，以保证精度。传统直角测量方法是将工件置于机台上进行测量。

然而，传统的直角测量方法需要占用机台有效稼动时间，降低了生产效率。

发明内容

基于此，提供一种不需要占用机台的直角测量工具。

一种直角测量工具，其特征在于，包括底座平台、表座、挡块以及设置在所述表座上的千分表；

所述底座平台的表面为平面，所述表座设置在所述底座平台的表面，所述挡块固定在所述表座的一侧。

在一个实施例中，所述挡块远离所述表座的一侧的表面为弧面。

在一个实施例中，所述挡块为圆杆状或椭圆杆状。

在一个实施例中，所述挡块与所述表座一体成型。

在一个实施例中，所述表座位于所述底座平台的边缘位置，所述挡块固定在所述表座靠近所述底座平台的中心的一侧。

在一个实施例中，所述表座上设有安装孔，所述千分表通过所述安装孔设置在所述表座上。

在一个实施例中，所述底座平台为长方体状，所述表座为长条状。

在一个实施例中，所述底座平台为大理石平台。

一种直角测量方法，采用上述的直角测量工具，包括如下步骤：

提供待测工件，所述待测工件具有相互垂直的第一直角面和第二直角面；

将所述待测工件放在所述底座平台上，使得所述第一直角面与所述底座平台的表面直接接触，同时所述第二直角面与所述挡块远离所述表座的一侧抵接，保持所述挡块与所述第二直角面的抵接处与所述千分表的表头的测量末端处于同一平面，并且使用所述千分表的表头测量所述第二直角面的最高点得到第一读数；

翻转所述待测工件，使得所述第二直角面与所述底座平台的表面直接接触，同时所述第一直角面与所述挡块远离所述表座的一侧抵接，保持所述挡块与所述第一直角面的抵接处与所述千分表的表头的测量末端处于同一平面，并且使用所述千分表的表头测量所述第一直角面的最高点得到第二读数；以及

比较所述第一读数和所述第二读数，如果所述第一读数和所述第二读数的差值超过阈值，则判定为所述第一直角面和所述第二直角面不符合直角要求，反之，则判定为所述第一直角面和所述第二直角面符合直角要求。

在一个实施例中，所述阈值通过如下公式得到：C＝k×max(A1，A2)；

其中，所述C为所述阈值，所述k的范围为0.1％～0.5％，所述A1为所述第一读数，所述A2为所述第二读数，所述max(A1，A2)为所述A1和所述A2中的较大值。