[发明专利]FPGA互连线测试方法及装置

权利要求书

1.一种FPGA互连线测试方法，其特征在于，包括：

获取FPGA器件之待测开关矩阵外部横向的待测互连线和纵向的待测互连线；

对所述横向的待测互连线和所述纵向的待测互连线分别进行建模以生成互连线测试图形，所述对所述横向的待测互连线和所述纵向的待测互连线分别进行建模以生成互连线测试图形包括：根据所述待测互连线的连线类型分别从所述横向的待测互连线中和所述纵向的待测互连线中各自选择出对应的N条待测互连线，一个方向上选择出的所述N条待测互连线各不相同；在所述待测开关矩阵的各行设置从所述横向的待测互连线中选择出的待测互连线，并在所述待测开关矩阵的各列设置从所述纵向的待测互连线中选择出的待测互连线；将所述各行的待测互连线进行合并处理，并将所述各列的待测互连线进列合并处理；将合并处理后的横向待测互连线进行代码建模得到横向模型代码，并将合并处理后的纵向待测互连线进行代码建模得到纵向模型代码；将所述横向模型代码和所述纵向模型代码进行合并得到互连线测试模型代码；根据所述互连线测试模型代码生成互连线测试图形；

将所述互连线测试图形转换为测试位流文件输入所述待测开关矩阵进行测试。

2.如权利要求1所述的FPGA互连线测试方法，其特征在于，所述连线类型包括二长线、六长线、长线和直接连线中的至少一种。

3.如权利要求2所述的FPGA互连线测试方法，其特征在于，所述连线类型为二长线或六长线时，所述N的取值为10；

所述连线类型为长线时，所述N的取值为4；

所述连线类型为直接连线时，所述N的取值为2。

4.如权利要求2所述的FPGA互连线测试方法，其特征在于，所述连线类型为二长线、六长线或长线时，在所述待测开关矩阵的各行设置从所述横向的待测互连线中选择出的待测互连线之前，还包括：

对从所述横向的待测互连线中选择出的N条待测互连线进行互连线归一处理；

在所述待测开关矩阵的各列设置从所述纵向的待测互连线中选择出的待测互连线之前，还包括：

对从所述纵向的待测互连线中选择出的N条待测互连线进行互连线归一处理。

5.如权利要求4所述的FPGA互连线测试方法，其特征在于，对所述N条待测互连线进行互连线归一处理包括：

先采用输入输出单元结构对所述N条待测互连线进行中转合并处理；

若根据所述输入输出单元结构对所述N条待测互连线进行中转合并处理后仍存在需要合并的待测互连线时，再采用查找表的可编程逻辑单元Sline结构对待进行合并处理的待测互连线进行合并处理。

6.如权利要求1-5任一项所述的FPGA互连线测试方法，其特征在于，将所述各行的待测互连线进行合并处理包括：

依次将相邻两行中上一行的待测互连线的输出口与下一行的待测互连线的输入口连接；

将所述各列的待测互连线进列合并处理包括：

依次将相邻两列中上一列的待测互连线的输出口与下一列的待测互连线的输入口连接。