[发明专利]液晶面板及其通电检测装置

说明书

技术领域

本发明属于液晶显示技术领域，具体地讲，涉及一种液晶面板及其通电检测装置。

背景技术

随着光电与半导体技术的演进，也带动了平板显示器(Flat Panel Display)的蓬勃发展，而在诸多平板显示器中，液晶显示器(Liquid Crystal Display，简称LCD)因具有高空间利用效率、低消耗功率、无辐射以及低电磁干扰等诸多优越特性，已被应用于生产生活的各个方面。

液晶显示器通常包括相对设置的液晶面板和背光模块，其中由于液晶面板无法发光，因此需要背光模块向液晶面板提供均匀的光线，以使液晶面板显示影像。液晶面板通常包括对盒组装的彩膜基板(CF基板)和阵列基板(Array基板)以及填充到二者之间的液晶。在液晶面板的液晶配向制程中，对彩膜基板和阵列基板加电压，液晶分子在电场作用下有序倾倒，保持电压不变，同时利用紫外光照射液晶，使液晶中添加的化学单体聚合，从而固定液晶分子，使其与基板形成预定倾角。

在现有技术中，对彩膜基板和阵列基板加电压的方式为：利用顶针(pin)与彩膜基板接触，彩膜基板通过导电件(诸如金球(Au Ball))与阵列基板连通，电流通过导电件导通到阵列基板上。然而在实际的制程中，由于制程误差，例如受金球位置精度影响、彩膜基板与阵列基板对盒不良，会导致金球压缩率偏小，导致电流导通不良。如无通电检测装置，则无法判断阵列基板是否加上电压。这样会导致液晶配向紊乱，从而产生液晶面板显示质量差等问题。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明的目的在于提供一种能够实时判断阵列基板的电压状态的液晶面板及其通电检测装置。

根据本发明的一方面，提供了一种液晶面板的通电检测装置，所述液晶面板包括：对盒设置的彩膜基板和阵列基板，所述彩膜基板和所述阵列基板包括显示区以及位于所述显示区之外且包围所述显示区的非显示区，所述通电检测装置包括：第一检测垫、第二检测垫以及导电件，所述第一检测垫设置于所述彩膜基板的非显示区，所述第二检测垫设置于所述阵列基板的非显示区，所述导电件夹设于所述彩膜基板和所述阵列基板之间且与所述第一检测垫和所述第二检测垫分别接触。

进一步地，在所述彩膜基板的显示区的相对两侧各设置至少一个所述第一检测垫，在所述阵列基板的显示区的相对两侧各设置至少一个所述第二检测垫，在所述阵列基板的显示区的相对两侧的所述第二检测垫通过设置于所述阵列基板的非显示区的金属线连通，位于所述显示区同一侧的彼此相对的所述第一检测垫和所述第二检测垫之间夹设所述导电件。

进一步地，在所述彩膜基板的显示区的一侧设置至少两个所述第一检测垫，在所述阵列基板的显示区的一侧各设置至少两个所述第二检测垫，所述第二检测垫之间通过设置于所述阵列基板的非显示区的金属线连通，所述第一检测垫与所述第二检测垫位于所述显示区的同一侧且一一彼此相对，彼此相对的所述第一检测垫和所述第二检测垫之间夹设所述导电件。

进一步地，所述金属线被设置为多重弯折形状，以增加所述金属线的电阻。

进一步地，所述导电件为金球或含有金球的胶材。

进一步地，所述第一检测垫的制作材料与所述彩膜基板的公共电极的制作材料相同。

进一步地，所述第一检测垫通过切割所述彩膜基板的位于非显示区的公共电极的一部分形成。

进一步地，所述第二检测垫采用金属材料或者透明的导电材料制成。

根据本发明的另一方面，还提供了一种液晶面板，其包括上述的通电检测装置。

进一步地，当对液晶面板进行通电检测时，通过检测由所述第一检测垫、所述第二检测垫和所述导电件构成的回路中的电流值来确定所述液晶面板通电是否正常。

本发明的有益效果：本发明通过设置通电检测装置，能够实时监测电路回路中电流变化，从而可以判断阵列基板是否加上电压。这样在液晶配向时可及时获取阵列基板的电压状态，从而避免液晶配向紊乱而产生的液晶面板显示质量差等问题。

附图说明

通过结合附图进行的以下描述，本发明的实施例的上述和其它方面、特点和优点将变得更加清楚，附图中：

图1是根据本发明的实施例的彩膜基板的平面图；

图2是根据本发明的实施例的阵列基板的平面图；

图3根据本发明的实施例的液晶面板的结构示意图；

图4是根据本发明的另一实施例的彩膜基板的平面图；

图5是根据本发明的另一实施例的阵列基板的平面图。

具体实施方式