[发明专利]传感器、传感器系统以及测定方法有效
申请号: | 201611176100.5 | 申请日: | 2016-12-16 |
公开(公告)号: | CN106989770B | 公开(公告)日: | 2019-10-11 |
发明(设计)人: | 都筑良介;尾崎公洋;大中颂一;有田辉 | 申请(专利权)人: | 欧姆龙株式会社 |
主分类号: | G01D21/00 | 分类号: | G01D21/00 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 杨贝贝;臧建明 |
地址: | 日本京都府京都市下京区*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 传感器 系统 以及 测定 方法 | ||
1.一种传感器,其基于设定值来测定物理量,所述传感器的特征在于包括:
操作器,受理用户的机械操作,并且生成与所述操作相应的操作输入值;
通信部,接收通信输入值;以及
设定部,根据所述操作输入值及所述通信输入值中的后输入者,来更新所述设定值,
所述设定部以固定的采样周期来对所述操作输入值进行采样,当在开始判定时刻经采样的所述操作输入值、与在从所述开始判定时刻直至所述采样周期前的时刻经采样的所述操作输入值即基准值之差的绝对值为规定值以上时,开始所述操作输入值的采样次数的计数,
当在所述开始判定时刻之后的时刻经采样的所述操作输入值与所述基准值之差的绝对值为所述规定值以上时,使所述采样次数增加,
在所述采样次数达到规定数的时刻,开始将所述设定值更新为所述操作输入值。
2.根据权利要求1所述的传感器,其特征在于,
所述操作器包括操作可动部,所述操作可动部根据用户的机械操作而配置角度或配置位置发生变化,
所述操作输入值为所述操作可动部的配置角度或配置位置。
3.根据权利要求1所述的传感器,其特征在于,
所述设定部在所述开始判定时刻之后的时刻经采样的所述操作输入值与所述基准值之差的绝对值小于所述规定值时,停止所述计数,并将所述采样次数设为0。
4.根据权利要求1或3所述的传感器,其特征在于,
若在从所述采样次数达到所述规定数算起的固定期间以上,进行了采样的操作输入值的变动包含在规定变动幅度内,则所述设定部停止所述计数,并将所述采样次数设为0。
5.根据权利要求1至3中任一项所述的传感器,其特征在于,还包括:
投射及接受光的测定部,且
所述传感器是下述任一种光电传感器,
将与所述测定部所接受的光的光量相应的信号放大至所述设定部所更新的设定值倍,并判定放大后的所述信号的振幅是否超过阈值的光电传感器;
将所述测定部所投射的光的强度放大至所述设定部所更新的设定值倍,并判定与由所述测定部所接受的光的光量相应的信号的振幅是否超过阈值的光电传感器;
通过所述测定部接受从物体反射的光,从而测定所述物体与所述传感器之间的距离,并判定所述距离是否超过由所述设定部所更新的设定值的光电传感器。
6.一种传感器系统,其特征在于,包括:
根据权利要求1至5中任一项所述的传感器;以及
上位设备,连接于所述通信部。
7.一种测定方法,其基于设定值来测定物理量,所述测定方法的特征在于包括:
操作步骤,受理用户的机械操作,并且生成与所述操作相应的操作输入值;
通信步骤,接收通信输入值;以及
设定步骤,将所述设定值更新为所述操作输入值及所述通信输入值中的后输入者,
所述设定步骤以固定的采样周期来对所述操作输入值进行采样,当在开始判定时刻经采样的所述操作输入值、与在从所述开始判定时刻直至所述采样周期前的时刻经采样的所述操作输入值即基准值之差的绝对值为规定值以上时,开始所述操作输入值的采样次数的计数,
当在所述开始判定时刻之后的时刻经采样的所述操作输入值与所述基准值之差的绝对值为所述规定值以上时,使所述采样次数增加,
在所述采样次数达到规定数的时刻,开始将所述设定值更新为所述操作输入值。
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