[发明专利]辉光放电质谱设备用陶瓷片的清洗方法在审
申请号: | 201611161131.3 | 申请日: | 2016-12-15 |
公开(公告)号: | CN108212912A | 公开(公告)日: | 2018-06-29 |
发明(设计)人: | 姚力军;潘杰;相原俊夫;王学泽;陈胜洁 | 申请(专利权)人: | 宁波江丰电子材料股份有限公司 |
主分类号: | B08B3/08 | 分类号: | B08B3/08;B08B3/12;F26B3/00;F26B5/04 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 高静;吴敏 |
地址: | 315400 浙江省宁波*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 陶瓷片 清洗工艺 辉光放电质谱 微孔 超声波清洗 干燥工艺 去除 预设 清洗 残留 陶瓷片表面 金属溶解 金属杂质 杂质去除 低熔点 多微孔 检测 吸附 蒸发 | ||
1.一种辉光放电质谱设备用陶瓷片的清洗方法,其特征在于,包括:
提供辉光放电质谱设备用陶瓷片;
对所述陶瓷片进行第一清洗工艺;
第一清洗工艺后,对所述陶瓷片进行第二清洗工艺,所述第二清洗工艺包括超声波清洗工艺;
第二清洗工艺后,在预设温度下对所述陶瓷片进行干燥工艺。
2.如权利要求1所述的辉光放电质谱设备用陶瓷片的清洗方法,其特征在于,所述第一清洗工艺为酸洗工艺。
3.如权利要求2所述的辉光放电质谱设备用陶瓷片的清洗方法,其特征在于,对所述陶瓷片进行第一清洗工艺的步骤中,采用的酸洗溶液为氢氟酸、硝酸和水的混合溶液。
4.如权利要求2所述的辉光放电质谱设备用陶瓷片的清洗方法,其特征在于,所述酸洗工艺的工艺时间为1分钟至3分钟。
5.如权利要求1所述的辉光放电质谱设备用陶瓷片的清洗方法,其特征在于,对所述陶瓷片进行第二清洗工艺的步骤包括:采用蒸馏水对所述陶瓷片进行预清洗工艺;预清洗工艺后,在蒸馏水中对所述陶瓷片进行超声波清洗工艺。
6.如权利要求5所述的辉光放电质谱设备用陶瓷片的清洗方法,其特征在于,所述预清洗工艺包括至少3次浸取操作;
所述浸取操作的步骤包括:将所述陶瓷片浸入蒸馏水中;将所述陶瓷片从所述蒸馏水中取出。
7.如权利要求6所述的辉光放电质谱设备用陶瓷片的清洗方法,其特征在于,所述预清洗工艺包括3次至5次的浸取操作。
8.如权利要求5所述的辉光放电质谱设备用陶瓷片的清洗方法,其特征在于,在蒸馏水中对所述陶瓷片进行超声波清洗工艺的步骤包括至少3次蒸馏水超声清洗;
所述蒸馏水超声清洗的步骤包括:采用超声波振荡器进行所述蒸馏水超声清洗,所述超声波振荡器的功率为150W至500W,输出频率为20KHz至40KHz,清洗时间为1分钟至3分钟。
9.如权利要求8所述的辉光放电质谱设备用陶瓷片的清洗方法,其特征在于,在蒸馏水中对所述陶瓷片进行超声波清洗工艺的步骤包括3次至5次的蒸馏水超声清洗。
10.如权利要求1所述的辉光放电质谱设备用陶瓷片的清洗方法,其特征在于,对所述陶瓷片进行第二清洗工艺的步骤为:在蒸馏水中对所述陶瓷片进行超声波清洗工艺。
11.如权利要求10所述的辉光放电质谱设备用陶瓷片的清洗方法,其特征在于,在蒸馏水中对所述陶瓷片进行超声波清洗工艺的步骤包括至少5次蒸馏水超声清洗;
所述蒸馏水超声清洗的步骤包括:采用超声波振荡器进行所述蒸馏水超声清洗,所述超声波振荡器的功率为150W至500W,输出频率为20KHz至40KHz,清洗时间为1分钟至3分钟。
12.如权利要求11所述的辉光放电质谱设备用陶瓷片的清洗方法,其特征在于,在蒸馏水中对所述陶瓷片进行超声波清洗工艺的步骤包括5次至10次的蒸馏水超声清洗。
13.如权利要求1所述的辉光放电质谱设备用陶瓷片的清洗方法,其特征在于,在预设温度下对所述陶瓷片进行干燥工艺的步骤包括:在常压下对所述陶瓷片进行烘干,预设温度为150摄氏度至250摄氏度,干燥时间为30分钟至90分钟。
14.如权利要求1所述的辉光放电质谱设备用陶瓷片的清洗方法,其特征在于,在预设温度下对所述陶瓷片进行干燥工艺的步骤包括:对所述陶瓷片进行真空干燥,预设温度为150摄氏度至250摄氏度,干燥时间为30分钟至90分钟。
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