[发明专利]多能谱X射线成像系统和用于利用多能谱X射线成像系统对待测物品进行物质识别的方法

权利要求书

1.一种用于利用多能谱X射线成像系统对待测物品进行物质识别的方法，包括：

获得所述待测物品在N个能区中的透明度值组成的透明度相关向量，其中N大于2；

利用非线性降维算法将所述透明度相关向量和所述系统中存储的多种已知标定材料物品在多种指定厚度的情况下在所述N个能区中的N个透明度均值组成的透明度相关向量组成的数据集一起映射到二维平面上，以同时得到所述待测物品的透明度相关向量在所述二维平面上的映射点和所述多种已知标定材料物品的透明度相关向量在所述二维平面上的映射点集合；

确定所述映射点集合中与所述映射点最近的点；以及

将所述待测物品识别为所述多种已知标定材料物品中与所述最近的点相对应的已知标定材料物品。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述非线性降维算法包括等距映射Isomap算法、局部线性嵌入LLE算法和维度尺度分析MDS算法。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，确定所述映射点集合中与所述映射点最近的点包括：

利用马氏距离算法、欧氏距离算法或余弦距离算法来确定与所述映射点最近的点。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述多种已知标定材料物品包括爆炸物。

5.一种多能谱X射线成像系统，包括：

X光源，被配置为产生X射线；

探测器，被配置为接收从所述X光源发出通过待测物品被透射或散射的X射线并将其转换为输出信号；

处理器，被配置为执行程序指令以进行以下操作：

获得所述待测物品在N个能区中的透明度值组成的透明度相关向量，其中N大于2；

利用非线性降维算法将所述透明度相关向量和所述系统中存储的多种已知标定材料物品在多种指定厚度的情况下在所述N个能区中的N个透明度均值组成的透明度相关向量组成的数据集一起映射到二维平面上，以同时得到所述待测物品的透明度相关向量在所述二维平面上的映射点和所述多种已知标定材料物品的透明度相关向量在所述二维平面上的映射点集合；

确定所述映射点集合中与所述映射点最近的点；以及

将所述待测物品识别为所述多种已知标定材料物品中与所述最近的点相对应的已知标定材料物品；以及

存储器，被配置为存储程序指令。

6.根据权利要求5所述的系统，其中，所述非线性降维算法包括等距映射Isomap算法、局部线性嵌入LLE算法和维度尺度分析MDS算法。

7.根据权利要求5所述的系统，其中，确定所述映射点集合中与所述映射点最近的点包括：

利用马氏距离算法、欧氏距离算法或余弦距离算法来确定与所述映射点最近的点。

8.根据权利要求5所述的系统，其中，所述多种已知标定材料物品包括爆炸物。

9.一种计算机可读介质，包括在由处理器执行时执行包括以下各项的操作的指令：

获得待测物品在N个能区中的透明度值组成的透明度相关向量，其中N大于2；

利用非线性降维算法将所述透明度相关向量和多能谱X射线成像系统中存储的多种已知标定材料物品在多种指定厚度的情况下在所述N个能区中的N个透明度均值组成的透明度相关向量组成的数据集一起映射到二维平面上，以同时得到所述待测物品的透明度相关向量在所述二维平面上的映射点和所述多种已知标定材料物品的透明度相关向量在所述二维平面上的映射点集合；

确定所述映射点集合中与所述映射点最近的点；以及

将所述待测物品识别为所述多种已知标定材料物品中与所述最近的点相对应的已知标定材料物品。

10.根据权利要求9所述的计算机可读介质，其中，所述非线性降维算法包括等距映射Isomap算法、局部线性嵌入LLE算法和维度尺度分析MDS算法。