[发明专利]光写入装置以及图像形成装置

说明书

技术领域

本发明涉及光写入装置以及图像形成装置，特别涉及抑制在对发光元件进行电流驱动的薄膜晶体管中产生的下垂(droop)现象所引起的光量变动的技术。

背景技术

近年来，以图像形成装置的小型化和低成本化为目的，将OLED(Organic Light Emitting Diode，有机发光二极管)作为发光源配置成行(line)状的行光学型的光写入装置(OLED-PH：OLED Print Head，OLED印刷头)的开发正在进展。在OLED-PH中，通过在同一基板上形成OLED和薄膜晶体管(TFT：Thin Film Transistor)，能够在同一基板上形成发光元件和其驱动电路，所以能够实现小型并且低成本化。

已知在薄膜晶体管中使用了低温多晶硅(LTPS：Low-Temperature Polycrystalline Silicon)的情况下，如果持续施加比阈值电压Vth大的栅极‐源极间电压Vgs，则随着连续施加时间变长，源极-漏极电流减少(下垂现象)。

因此，如果将LTPS TFT应用于OLED-PH，则随着OLED的连续发光时间变长，OLED的发光量降低(图12(a))，发生副扫描方向的浓度不均。例如，在满图像中，随着在副扫描方向上进展图像形成，浓度降低(图12(b))。

针对这样的问题，例如，提出了如下技术：针对每个OLED设置光量传感器来测量该OLED的发光量，并进行反馈控制，从而消除浓度不均(参照例如专利文献1)。

专利文献1：日本特开2002-144634号公报

发明内容

然而，在上述以往技术中，针对每个OLED设置光量传感器，所以无法避免OLED-PH的大型化、部件成本的上升。

本发明是鉴于上述那样的问题而完成的，其目的在于提供一种能够降低使用了薄膜晶体管的光写入装置中的发光元件的连续发光所引起的副扫描方向的浓度不均的光写入装置以及图像形成装置。

为了达成上述目的，本发明涉及的光写入装置是根据图像数据对感光体进行曝光而按每行形成静电潜像的光写入装置，其特征在于，所述光写入装置具备：电流驱动型的发光元件；薄膜晶体管，将与亮度信号对应的驱动电流供给到所述发光元件而使该发光元件发光；以及控制单元，控制为：针对1个页面内的每行，校正应该对所述薄膜晶体管供给的亮度信号，以补偿与在从第一行至该行为止的期间中所述发光元件连续地点亮或者熄灭的点亮熄灭历史对应的所述发光元件的发光量的变动，将与校正后的亮度信号对应的驱动电流供给到所述发光元件。

由此，能够降低使用了薄膜晶体管的光写入装置中的发光元件的连续发光所引起的副扫描方向的浓度不均。

此外，所述控制单元也可以参照所述图像数据来确定所述点亮熄灭历史。另外，所述点亮熄灭历史也可以表示使该发光元件连续点亮至该行为止时的点亮期间的长度，也可以表示从所述第一行至该行为止的所述发光元件的连续点亮期间以及连续熄灭期间的时期以及长度。

另外，也可以具备：温度检测单元，检测所述发光元件的环境温度；以及劣化度检测单元，检测与所述发光元件的累计发光时间对应的劣化度，所述控制单元进一步校正应该对所述薄膜晶体管供给的亮度信号，以补偿与所述环境温度和所述劣化度对应的所述发光元件的发光量的变动。

在该情况下，也可以具备针对所述点亮熄灭历史、所述环境温度以及所述劣化度的每个组合存储用于校正所述亮度信号的校正数据的表格，所述控制单元使用与所述点亮熄灭历史、所述环境温度以及所述劣化度的每个组合对应的所述校正数据，校正所述亮度信号。

另外，也可以具备：温度检测单元，检测所述发光元件的环境温度；劣化度检测单元，检测与所述发光元件的累计发光时间对应的劣化度；第1存储单元，针对每个目标光量，存储用于从初始状态的所述发光元件得到目标光量的亮度信号值；以及第2存储单元，针对所述点亮熄灭历史、所述环境温度以及所述劣化度的每个组合，存储用于根据用于在所述初始状态下得到目标光量的亮度信号值计算用于得到所述目标光量的亮度信号值的校正系数，所述控制单元从所述第1存储单元取得用于在所述初始状态下得到目标光量的亮度信号值，并且从所述第2存储单元取得与所述点亮熄灭历史、所述环境温度以及所述劣化度对应的所述校正系数，使用该校正系数校正所述亮度信号，以成为根据用于在所述初始状态下得到目标光量的亮度信号值计算的亮度信号值。

另外，优选为所述薄膜晶体管是使用了低温多晶硅的LTPS晶体管。

另外，本发明的图像形成装置的特征在于，具备本发明的光写入装置。由此，能够得到上述效果。