[发明专利]光写入装置以及图像形成装置在审

专利信息
申请号: 201611142626.1 申请日: 2016-12-13
公开(公告)号: CN106886137A 公开(公告)日: 2017-06-23
发明(设计)人: 植村昂纪;矢野壮;饭岛成幸;松尾隆宏;谷山彰 申请(专利权)人: 柯尼卡美能达株式会社
主分类号: G03G15/04 分类号: G03G15/04
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 代理人: 李今子
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 写入 装置 以及 图像 形成
【权利要求书】:

1.一种光写入装置,根据图像数据对感光体进行曝光而按每行形成静电潜像,所述光写入装置的特征在于,具备:

电流驱动型的发光元件;

薄膜晶体管,将与亮度信号对应的驱动电流供给到所述发光元件而使该发光元件发光;以及

控制单元,控制为:针对1个页面内的每行,校正应该对所述薄膜晶体管供给的亮度信号,以补偿与在从第一行至该行为止的期间所述发光元件连续地点亮或者熄灭的点亮熄灭历史对应的所述发光元件的发光量的变动,将与校正后的亮度信号对应的驱动电流供给到所述发光元件。

2.根据权利要求1所述的光写入装置,其特征在于,

所述控制单元参照所述图像数据来确定所述点亮熄灭历史。

3.根据权利要求1或者2所述的光写入装置,其特征在于,

所述点亮熄灭历史表示使该发光元件连续点亮至该行为止时的点亮期间的长度。

4.根据权利要求1或者2所述的光写入装置,其特征在于,

所述点亮熄灭历史表示从所述第一行至该行为止的所述发光元件的连续点亮期间以及连续熄灭期间的时期以及长度。

5.根据权利要求1至4中的任意一项所述的光写入装置,其特征在于,具备:

温度检测单元,检测所述发光元件的环境温度;以及

劣化度检测单元,检测与所述发光元件的累计发光时间对应的劣化度,

所述控制单元进一步校正应该对所述薄膜晶体管供给的亮度信号,以补偿与所述环境温度和所述劣化度对应的所述发光元件的发光量的变动。

6.根据权利要求5所述的光写入装置,其特征在于,

具备针对所述点亮熄灭历史、所述环境温度以及所述劣化度的每个组合存储用于校正所述亮度信号的校正数据的表格,

所述控制单元使用与所述点亮熄灭历史、所述环境温度以及所述劣化度的每个组合对应的所述校正数据,校正所述亮度信号。

7.根据权利要求1至4中的任意一项所述的光写入装置,其特征在于,具备:

温度检测单元,检测所述发光元件的环境温度;

劣化度检测单元,检测与所述发光元件的累计发光时间对应的劣化度;

第1存储单元,针对每个目标光量,存储用于从初始状态的所述发光元件得到目标光量的亮度信号值;以及

第2存储单元,针对所述点亮熄灭历史、所述环境温度以及所述劣化度的每个组合,存储校正系数,该校正系数是用于根据用于在所述初始状态下得到目标光量的亮度信号值计算用于得到所述目标光量的亮度信号值的系数,

所述控制单元从所述第1存储单元取得用于在所述初始状态下得到目标光量的亮度信号值,并且

从所述第2存储单元取得与所述点亮熄灭历史、所述环境温度以及所述劣化度对应的所述校正系数,

使用该校正系数校正所述亮度信号,以成为根据用于在所述初始状态下得到目标光量的亮度信号值计算的亮度信号值。

8.根据权利要求1至7中的任意一项所述的光写入装置,其特征在于,

所述薄膜晶体管是使用了低温多晶硅的LTPS晶体管。

9.一种图像形成装置,其特征在于,

具备权利要求1至8中的任意一项所述的光写入装置。

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