[发明专利]一种测量固体激光器中增益介质内部温度的方法有效
申请号: | 201611123777.2 | 申请日: | 2016-12-08 |
公开(公告)号: | CN108168726B | 公开(公告)日: | 2020-10-02 |
发明(设计)人: | 陈雨金;徐晨晨;黄艺东;林炎富;黄建华;龚兴红;罗遵度 | 申请(专利权)人: | 中国科学院福建物质结构研究所 |
主分类号: | G01K11/00 | 分类号: | G01K11/00 |
代理公司: | 北京元周律知识产权代理有限公司 11540 | 代理人: | 张莹 |
地址: | 350002 *** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测量 固体激光器 增益 介质 内部 温度 方法 | ||
1.一种测量固体激光器中增益介质内部温度的方法,包括以下步骤:首先将掺杂稀土离子的增益介质置于可控温的样品仓中,根据需要设定测温范围和测温间隔,利用荧光光谱仪记录不同温度下增益介质中稀土离子从热耦合能级跃迁产生的荧光谱;根据测得的荧光谱计算出不同温度下稀土离子从热耦合能级跃迁产生的荧光强度比值,获得荧光强度比值与增益介质温度的对应关系;然后将上述增益介质置于固体激光器的谐振腔中,谐振腔的输入和输出腔镜分别镀有适合该增益介质基波激光起振的介质膜,采用能被该增益介质有效吸收的光源作为泵浦源,实现固体激光器的激光运转;在激光运转的同时,将荧光收集和记录装置置于与激发光和激光通光方向相垂直的方向,测量增益介质内部某一位置处稀土离子从热耦合能级跃迁产生的荧光谱;根据测得的荧光谱计算出稀土离子从热耦合能级跃迁产生的荧光强度比值,对比预先得到的荧光强度比值与增益介质温度的对应关系,即可得出增益介质内部该位置处的温度;通过逐点扫描测量增益介质内部不同位置处的荧光谱,即可实时测得该增益介质内部的温度分布。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述增益介质所掺杂的稀土离子分别为Er3+,Yb3+,Nd3+,Eu3+,Ho3+,Dy3+,Tb3+,Tm3+,Pr3+,Sm3+。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于:所述稀土离子Er3+的热耦合能级为2H11/2和4S3/2,或4G11/2和2H9/2;Yb3+的热耦合能级为2F5/2(a)和2F5/2(b);Nd3+的热耦合能级为4F7/2+4S3/2和4F3/2,或4F7/2+4S3/2和2H9/2+4F5/2,或2H9/2+4F5/2和4F3/2;Eu3+的热耦合能级为5D1和5D0;Ho3+的热耦合能级为5G6+5F1和5F2,3+3K8,或5F4+5S2和5F5;Dy3+的热耦合能级为4I15/2和4F9/2;Tm3+的热耦合能级为1G4(a)和1G4(b),或3F2,3和3H4;Pr3+的热耦合能级为3P0和3P1+1I6;Sm3+的热耦合能级为4F3/2和4G5/2。
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