[发明专利]一种短时间间隔调制域测量时序设计方法有效
申请号: | 201611036652.6 | 申请日: | 2016-11-15 |
公开(公告)号: | CN106771652B | 公开(公告)日: | 2019-11-12 |
发明(设计)人: | 刘强;毛黎明;丁建岽;任水生;杨帆 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
主分类号: | G01R29/00 | 分类号: | G01R29/00;G01R29/06 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 266555 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 短时间 间隔 调制 测量 时序 设计 方法 | ||
1.一种短时间间隔调制域测量时序设计方法,其特征在于,包括:测量数据输出时间排列单元、各数据有效串并结构单元、测量有效反馈信号产生单元、运算处理单元;
所述测量数据输出时间排列单元将每个测量单元的一次测量中各种参数数据按照时间顺序进行排列,并根据此顺序设计各数据有效串并结构单元;
所述各数据有效串并结构单元为每种测量参数的输出的前后关系构建串并流程,选择最后一种测量参数输出的时刻作为一次有效测量流程的结束;
所述测量有效反馈信号产生单元,使用反馈信号启动测量单元;
所述运算处理单元负责算法的实现、高低闸门两个通道测量的数据无隙整合,通过高速接口读取测量数据,并负责对数据进行最终的运算、处理及显示。
2.如权利要求1所述的一种短时间间隔调制域测量时序设计方法,其特征在于,该方法的测量机制为:
在一次测量时间中每种参数更新提供一种有效标志,更新失败产生数据失效标志,在串行流程中产生一次数据失效标志,本次测量摒弃,开始下次测量;串行关系流程中前一级使能后一级的数据判断,依次类推;并行流程中有一个判断出失效就判断并行流程失效;只有串联的最后一种数据判断产生有效标志才能使能本次测量运算处理;整个过程完成一次数据有效反馈机制,数据标志作为有效使能运算的开始,一次测量结果有效就立刻运算处理;同时,测量运算启动和所有参数数据的有效到达绑定一起。
3.如权利要求2所述的一种短时间间隔调制域测量时序设计方法,其特征在于,所述测量机制中,闸门的前内插和后内插测量采用分别处理方式,即闸门的前内插都是由一个测量单元完成,闸门的后内插都是由另一个独立的测量单元完成。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第四十一研究所,未经中国电子科技集团公司第四十一研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611036652.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。