[发明专利]一种强屏蔽下储层高精度预测方法

说明书

本发明提供了一种强屏蔽下储层高精度预测方法，所述方法包括以下步骤：拾取地震剖面上位于储层上方的强反射屏蔽层的地震层位；利用拾取的地震层位对地震数据进行静态时移；利用中值滤波对静态时移后的地震数据进行预处理，以剥离强反射屏蔽层；对中值滤波后的地震数据进行静态反时移，得到去除强反射屏蔽层后的地震剖面；对去除强反射屏蔽层后的地震数据提取地震属性，并雕刻储层，得到储层预测结果。按照本发明方法进行强屏蔽下储层预测，大幅度地改善受上覆强屏蔽作用影响的储层识别能力，降低了地震资料储层解释的多解性，提高了高强屏蔽下储层预测精度。

技术领域

本发明涉及地球物理信号解释领域，更具体地讲，涉及一种强屏蔽下储层高精度预测方法。

背景技术

随着勘探开发的深入，气藏地质情况越来越复杂，储层预测精度要求越来越高。当储层上覆地层含有特殊地层或岩性在地震剖面上表现为强反射时，会使下伏地层储层信息被掩盖，从而干扰储层识别和影响预测精度，给气藏开发带来了较大的困难。

发明内容

针对现有技术中存在的不足，本发明的目的之一在于解决上述现有技术中存在的一个或多个问题。例如，本发明的目的之一在于提供一种提高强屏蔽下储层预测精度的方法。

为了实现上述目的，本发明提供了一种强屏蔽下储层高精度预测方法，所述方法包括以下步骤：拾取地震剖面上位于储层上方的强反射屏蔽层的地震层位；利用拾取的地震层位对地震数据进行静态时移；利用中值滤波对静态时移后的地震数据进行预处理，以剥离强反射屏蔽层；对中值滤波后的地震数据进行静态反时移，得到去除强反射屏蔽层后的地震剖面；对去除强反射屏蔽层后的地震数据提取地震属性，并雕刻储层，得到储层预测结果。

根据本发明强屏蔽下储层高精度预测方法的一个实施例，所述储层预测结果为雕刻的储层发育位置。

根据本发明强屏蔽下储层高精度预测方法的一个实施例，所述提取地震属性步骤提取地震瞬时振幅属性。

根据本发明强屏蔽下储层高精度预测方法的一个实施例，所述静态时移步骤将地震数据按照所述拾取的地震层位时间校正，使同相轴按照时间方向排齐。

与现有技术相比，本发明的有益效果包括：大幅度地改善受上覆强屏蔽作用影响的储层识别能力，降低了地震资料储层解释的多解性，提高了高强屏蔽下储层预测精度。

附图说明

通过下面结合附图进行的描述，本发明的上述和其他目的和特点将会变得更加清楚，其中：

图1是本发明示例性实施例的强屏蔽下储层高精度预测方法的流程图。

图2是原始地震剖面图。

图3是利用本发明示例性实施例的强屏蔽下储层高精度预测方法对图2的地震剖面进行静态时移和排齐之后的地震剖面图。

图4是利用本发明示例性实施例的强屏蔽下储层高精度预测方法对图3的地震剖面进行中值滤波处理后的地震剖面图。

图5是利用本发明示例性实施例的强屏蔽下储层高精度预测方法对图4的地震剖面进行静态反向时移处理后的地震剖面图。

图6是中值滤波的数学原理图。

图7是原始剖面地震瞬时振幅属性图。

图8是利用本发明示例性实施例的强屏蔽下储层高精度预测方法剥离强屏蔽层后地震瞬时振幅属性图。

附图标记说明：

1-储层位置，T1-拾取层位，T2-雕刻出的储层位置。

具体实施方式

在下文中，将结合附图和示例性实施例详细地描述根据本发明的强屏蔽下储层高精度预测方法。