[发明专利]一种电离层返回散射交叉探测联合反演方法有效
申请号: | 201610990429.9 | 申请日: | 2016-11-10 |
公开(公告)号: | CN106526597B | 公开(公告)日: | 2019-01-04 |
发明(设计)人: | 蔚娜;柳文;冯静;鲁转侠;娄鹏;杨龙泉;郭文玲 | 申请(专利权)人: | 中国电波传播研究所(中国电子科技集团公司第二十二研究所) |
主分类号: | G01S13/95 | 分类号: | G01S13/95 |
代理公司: | 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 | 代理人: | 孙静雅 |
地址: | 266107 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 散射 电离层 返回 探测 反演 联合 电离层模型 反演算法 覆盖区域 数学模型 浓度分布 探测系统 同一区域 三维 融合 | ||
本发明公开了一种电离层返回散射交叉探测联合反演方法,包括如下步骤:(1)建立电离层模型;(2)建立联合反演算法数学模型;(3)基于建立的电离层模型和联合反演算法数学模型,进行电离层返回散射交叉探测联合反演,得到覆盖区域的三维电子浓度分布。本发明所公开的电离层返回散射交叉探测联合反演方法,利用两部返回散射探测系统实现对同一区域电离层从两个不同角度的返回散射探测形成返回散射交叉探测,可得到两个不同角度的多个方位的返回散射前沿数据。本发明建立了电离层返回散射交叉探测联合反演方法,能够融合不同角度的多个方位的返回散射探测前沿数据,大大提高覆盖区域内电离层电子浓度的反演精度。
技术领域
本发明涉及电离层研究及应用领域,特别是涉及一种电离层返回散射交叉探测联合反演方法。
背景技术
在现有技术中,还没有对电离层返回散射交叉探测技术进行联合反演的方法。
发明内容
本发明所要解决的技术问题就是提供一种电离层返回散射交叉探测联合反演方法。
本发明采用如下技术方案:
一种电离层返回散射交叉探测联合反演方法,其改进之处在于,包括如下步骤:
(1)建立电离层模型:对实际电离层简化近似,建立垂直剖面形状不变的电离层电子浓度模型,该模型的数学表达式为:
n(x1,x2,x3)=n0(x3)(1+u(x1,x2)) (1)
其中,n(x1,x2,x3)为探测系统覆盖区内的三维电子浓度分布,(x1,x2,x3)是三维区域内某一点的纬度,经度,高度空间坐标,n0(x3)是覆盖区域内某一位置处的已知的电子浓度垂直剖面,u(x1,x2)表示纬度x1经度x2处电子浓度剖面相对于n0(x3)改变的比例因子,是待求函数,一旦求解出u(x1,x2)代入式(1)便可求得三维电子浓度分布n(x1,x2,x3);将n(x1,x2,x3)按照经度、纬度和高度划分为离散电子浓度网格,每个节点坐标为其中,i(1≤i≤I0)、j(1≤j≤J0)、k(1≤k≤K0)分别表示该节点坐标在经度、纬度和高度方向上的索引,I0、J0、K0分别表示经度、纬度和高度方向上的节点数,则该模型的离散化形式可表示为:
n(i,j,k)=n0(k)(1+u(i,j)) (2)
(2)建立联合反演算法数学模型:
(21)对联合反演问题进行数学描述:在当前电离层状态下,对于第l(l=1,2)个返回散射探测系统,我们可以获得方位频率f上的最小时延为由u(x1,x2)到可以用式(3)所示的非线性运算表示,即:
其中,代表作用于u(x1,x2)得到gl(f,φ)的非线性算子,返回散射交叉探测联合反演问题即为求解泛函方程(3)中的u(x1,x2);
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电波传播研究所(中国电子科技集团公司第二十二研究所),未经中国电波传播研究所(中国电子科技集团公司第二十二研究所)许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610990429.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。