[发明专利]开关磁阻电机位置检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及开关磁阻电机位置检测技术，特别涉及一种开关磁阻电机位置检测方法。具体是采用DA芯片、逻辑芯片和控制器的判断实现对开关磁阻电机位置检测。

背景技术

传统的开关磁阻电机转子位置检测法采用诸如光电编码器、霍尔位置传感器等,称作直接位置检测法。由于位置传感器的存在,增加了开关磁阻电机结构的复杂性,影响了开关磁阻电机调速系统可靠性,也使得开关磁阻电机调速系统的成本增加,阻碍了开关磁阻电机在生产和生活中的广泛应用。

发明内容

本发明的目的是提供一种用于开关磁阻电机位置检测方法，采用DA芯片、逻辑芯片和控制器的判断实现对开关磁阻电机位置检测，从而替代传统的转子位置检测装置，提高系统的可靠性。

附图说明

图1为本发明实施例开关磁阻电机位置检测的结构框图。

图2为本发明实施例在位置检测中VREF-和VREF+实现装置图。

图3为A相逻辑处理图。

图4为B相逻辑处理图。

图5为C相逻辑处理图。

图6为D相逻辑处理图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明进行说明，但它们不是对本发明作任何限制。

将一台以四相8/6开关磁阻电机作为控制对象为例对本发明进行说明。如图2所示，首先控制器通过IO1、IO2、IO3来控制TLC5615产生合适的电压，此电压经过TL082得到VREF-和VREF+。

按照电机的通电顺序，假设当前是D相在通电，测控制器此时检测如图3，A相的三个逻辑电平A-ANGD、A-VREF+和A-VREF-，如果A-ANGD为低电平且A-VREF+为高电平，同时，当A-ANGD为高电平且A-VREF-为低电平。此时控制器控制驱动器关断D相，导通A相。此后控制再检测B相的三个逻辑电平，以此类推，就可以实现电机的正确旋转。