[发明专利]自动测试通道配置装置及其控制方法

说明书

本发明公开了一种自动测试通道配置装置及其控制方法，具有多个测试通道、记忆模块、第一逻辑运算模块及第二逻辑运算模块。记忆模块具有多个记忆区块，每一个记忆区块具有测试通道其中之一的多个导通状态值。每一个导通状态值关连于一个测试环境。第一逻辑运算模块依据一个记忆区块中的导通状态值和测试环境选择数据，产生第一控制信号。第二逻辑运算模块依据一个记忆区块中的导通状态值和测试环境维持数据，产生第二控制信号。第二逻辑运算模块依据第一控制信号及第二控制信号，产生第一测试通道控制信号，以选择性地导通第一测试通道。

技术领域

本发明关于一种自动测试通道配置装置及其控制方法，特别是一种应用于自动测试设备的自动测试设备资源配置方法及其控制方法。

背景技术

在测试集成电路的领域中，自动测试设备(automated test equipment, ATE)被广泛地运用来对受检测的集成电路送出信号，并接收和分析从受测集成电路反馈的信号，来决定受测的集成电路有没有发生功能错误(malfunction) 的状况。

为了增加集成电路的测试效率和降低测试成本，目前的集成电路测试厂商积极地研究如何能在同一时段中测试更多个待测物(device under test，DUT)，使得自动测试设备分配测试通道的方式越来越重要。此外，当自动测试设备对待测集成电路进行测试时，同一批进行测试的集成电路中，可能会有部分的集成电路需要进行微调。而目前的自动测试设备不具有微调部分或全部集成电路的功能，因此亦增加了集成电路的测试成本。

发明内容

本发明在于提供一种自动测试通道配置装置及其控制方法，藉以解决现有自动测试设备不具有微调部分或全部待测集成电路的问题。

本发明所公开的自动测试通道配置装置，电性连接一自动测试设备与至少一待测物，自动测试通道配置装置具有多个测试通道、记忆模块、第一逻辑运算模块及第二逻辑运算模块。记忆模块具有多个记忆区块，每一个记忆区块关连于多个测试通道其中之一。每一个记忆区块具有多个导通状态值，每一个导通状态值关连于多个测试环境其中之一。第一逻辑运算模块电性连接记忆模块，用以依据其中一个记忆区块储存的导通状态值和测试环境选择数据，产生第一测试通道的第一控制信号。测试环境选择数据具有多个选择状态值，每一个选择状态值关连于其中一个测试环境。第二逻辑运算模块电性连接第一逻辑运算模块，用以依据一个记忆区块储存的导通状态值和测试环境维持数据，产生第一测试通道的第二控制信号。测试环境维持数据具有多个状态维持值，每一个状态维持值关连于测试环境其中之一。第二逻辑运算模块依据第一控制信号及第二控制信号，产生第一测试通道控制信号，以选择性地导通第一测试通道。

本发明所公开的自动测试通道配置装置的控制方法，具有设定关系表。关系表用以记录多个测试通道中每一个测试通道对应多个测试环境的操作关联性。自测试环境中，选择部分的测试环境来进行测试。依据关系表中，判断被选择进行测试的测试环境的通道状态。依据被选择进行测试的每一个测试环境的通道状态，计算第一测试通道的第一控制信号。自测试环境中，选择部分的测试环境来进行状态维持。依据关系表中，判断被选择进行状态维持的测试环境的通道状态。依据被选择状态维持的测试环境的通道状态，计算第一测试通道的第二控制信号。依据第一控制信号及第二控制信号，判断第一测试通道是否要导通。

根据上述本发明所公开的自动测试通道配置装置及其控制方法，可以依据每个测试环境被选择进行测试的状态和被选择进行状态维持的状态，来决定在一个批次的测试中前述多个测试通道中的每个通道是否该被导通，进而使得自动测试设备可以对部分或全部集成电路的进行微调参数的程序。

以上的关于本公开内容的说明及以下的实施方式的说明用以示范与解释本发明的精神与原理，并且提供本发明的权利要求保护范围更进一步的解释。

附图说明

图1为根据本发明一实施例所绘示的自动测试设备、自动测试通道配置装置和待测装置的功能方块图。