[发明专利]光学面板的检测方法及其装置

说明书

本发明提供一种光学面板的检测方法，包括选定光学面板上至少一特征点，先移动光学面板至一光学读取站读取该特征点并定位该光学面板，然后移动该已定位的光学面板至一通电检测站，令一通电的电源探针接触光学面板上的一接点以点亮该光学面板，然后对已点亮的该光学面板取像及比对，其中点亮、取像及比对该光学面板都在通电检测站中依序进行，且该光学读取站和通电检测站位于同一直线路径上。本发明进一步提供实施上述方法所需的一种光学面板的检测装置。如此，改善传统检测光学面板的程序或机构过于复杂而造成检测量能难以有效提升的问题。

技术领域

本发明涉及一般光学面板产制完成后所必须进行的瑕疵检测技术，特别包括先通电点亮而后进行影像比对的一种光学面板的检测方法及其装置。

背景技术

近年来，随着数字化科技产品日新月异的不断发展，会揭示信息的光学面板已广泛应用于诸如GPS手表、手机、个人数字助理(PDA)、游戏机输入介面等各种电子产品中。

一般而言，光学面板在产制完成后都必须进行瑕疵检测，以排除不良品，因此自动光学检测技术(Automatic Optic Inspection,AOI)便孕育而生。其中，光学面板上都具有可供电连接的接点，以目前AOI程序而言，会先将电源电连接至光学面板上的接点，以点亮光学面板，而后利用电荷耦合元件(Charge Coupled Device,CCD)对点亮后的光学面板进行取像，以便和标准影像进行比对，进而辨别出良品与具有瑕疵的不良品。

且知，光学面板在进行上述AOI程序时，为了方便电源可准确的电连接至该光学面板的接点，而且便于点亮光学面板的后CCD能准确的撷取实物影像，能事先取得光学面板的基准位置便显得相当重要。

但是，随着上述电子产品外型设计的多样化，光学面板的特征轮廓已非局限于传统的长方形或四边形，相对的，具有各种弧曲特征轮廓的光学面板(例如GPS手表)，已充斥市面。由于光学面板特征轮廓的多样化，迫使光学面板在进行上述AOI程序时，较难事先取得光学面板的基准位置；再者，光学面板在进行AOI前通常凭借输送带载运，导致光学面板的位置精度不足，而阻碍了AOI的程序顺畅性；此外，传统AOI作业还存在撷取光学面板的基准位置的程序或机构过于复杂，或仰赖人力或半自动方式进行等缺弊，是造成检测量能难以有效提升的问题，亟待加以改善。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的，旨在改善传统检测光学面板的程序或机构过于复杂，造成检测量能难以有效提升的问题。

为此，本发明提供的一种光学面板的检测方法，其技术手段包括执行下列步骤：选定光学面板上至少一特征点，先移动光学面板至一光学读取站读取该特征点并定位该光学面板，然后移动该已定位的光学面板至一通电检测站，令一通电的电源探针接触光学面板上的一接点以点亮该光学面板，然后对已点亮的该光学面板取像及比对；其中，点亮、取像及比对该光学面板都在通电检测站中依序进行，且该光学读取站和通电检测站位于同一直线路径上。

在进一步实施中，该直线路径由光学面板的一主输送路径分歧形成，该光学面板自主输送路径移动至该直线路径上的光学读取站，该光学面板并在取像及比对后由该直线路径的通电检测站移动至该主输送路径上。其中所述光学面板的主输送路径上规划形成一不良品排除站。该不良品排除站包含自主输送路径上剃除不良品，并且还包含对主输送路径上的良品进行校位。

上述方法可以通过一种装置技术而获得实现，为此，本发明的一具体实施例在于提供一种光学面板的检测装置，其技术手段包括：一光学读取站，具有一多轴移动载台，该多轴移动载台的上方配置有一第一电荷耦合元件；一通电检测站，其上方配置有一可升降式电源探针及一第二电荷耦合元件；其中，该光学读取站和通电检测站位于同一直线路径上。

在进一步实施中，该直线路径由光学面板的一主输送路径分歧形成。其中所述光学面板的主输送路径上规划形成一不良品排除站。该不良品排除站包含自主输送路径上剃除不良品，并且还包含对主输送路径上的良品进行校位。