[发明专利]光学面板的检测方法及其装置

权利要求书

1.一种光学面板的检测方法，该光学面板具有弧曲特征轮廓，至少一特征点由该弧曲特征轮廓形成，其特征在于，包括依序执行下列步骤：

建构一直线路径，该直线路径由载运光学面板的一主输送路径以T形分歧方式形成，该直线路径上依序建构出一光学读取站和一通电检测站，该光学读取站相对邻近主输送路径，而该通电检测站相对远离主输送路径，该光学读取站内具有一多轴移动载台；

选定光学面板上的该至少一特征点，先自该主输送路径撷取光学面板至该光学读取站读取该特征点，使该多轴移动载台依据该特征点定位该光学面板至一检测用的基准位置，然后经由该直线路径移动该已定位的光学面板至该通电检测站，令一通电的电源探针接触光学面板上的一接点以点亮该光学面板，然后对已点亮的该光学面板取像及比对；

其中，该光学面板经由该多轴移动载台沿该直线路径往返移动于该光学读取站和该通电检测站之间，且点亮、取像及比对该光学面板都在通电检测站中依序进行。

2.根据权利要求1所述光学面板的检测方法，其特征在于：该光学面板在取像及比对后由该直线路径的通电检测站移动至该主输送路径上。

3.根据权利要求1所述光学面板的检测方法，其特征在于：所述光学面板的主输送路径上规划形成一不良品排除站。

4.根据权利要求3所述光学面板的检测方法，其特征在于：该不良品排除站包含自主输送路径上剃除不良品，并且还包含对主输送路径上的良品进行校位。

5.一种光学面板的检测装置，该光学面板具有弧曲特征轮廓，至少一特征点由该弧曲特征轮廓形成，其特征在于，包括：

一直线路径，由载运光学面板的一主输送路径以T形分歧方式形成，该直线路径由一直线形的水平滑轨形成，且该直线路径上配置包括：

一光学读取站，具有一滑设于该水平滑轨上的多轴移动载台，该多轴移动载台的上方配置有一第一电荷耦合元件，该第一电荷耦合元件用以读取该光学面板上的该特征点；及

一通电检测站，坐落于该直线路径上，该多轴移动载台能沿水平滑轨载运已读取特征点的光学面板沿该直线路径移动至该通电检测站，该通电检测站上方配置有一可升降式接触并且点亮光学面板的电源探针及一第二电荷耦合元件，该第二电荷耦合元件对点亮后的光学面板进行取像及比对；

其中，该光学读取站相对邻近主输送路径，且该通电检测站相对远离主输送路径，该光学面板撷取自主输送路径并且移动至一该光学读取站进行读取该特征点，并且使该多轴移动载台依据该特征点定位该光学面板至一检测用的基准位置，然后经由该直线路径移动该已定位的光学面板至一该通电检测站进行点亮、取像及比对该光学面板，且该光学面板经由该多轴移动载台沿该水平滑轨提供的直线路径往返移动于该光学读取站和该通电检测站之间。

6.根据权利要求5所述光学面板的检测装置，其特征在于：所述光学面板的主输送路径上规划形成一不良品排除站。

7.根据权利要求6所述光学面板的检测装置，其特征在于：该不良品排除站包含自主输送路径上剃除不良品，并且还包含对主输送路径上的良品进行校位。