[发明专利]一种偏振多光谱成像系统的偏振通道定标方法有效

专利信息
申请号: 201610341317.0 申请日: 2016-05-20
公开(公告)号: CN105890761B 公开(公告)日: 2018-01-16
发明(设计)人: 袁艳;胡亮;苏丽娟 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201 代理人: 张大威
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 偏振 光谱 成像 系统 通道 定标 方法
【权利要求书】:

1.一种偏振多光谱成像系统的偏振通道定标方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1:由已知入射辐射确定光场偏振成像系统中各像元的响应规律,所述光场偏振成像系统包括依次设置的光源、主镜、微透镜阵列和探测器阵列,所述主镜上设置有偏振滤波阵列,所述光源发出的光线经过所述主镜上的偏振滤波阵列时,在每个子孔径处分别得到不同的偏振滤光,再经所述微透镜阵列成像后被所述探测器阵列的相应的像元接收;

S2:根据所述光场偏振成像系统中各像元的响应规律,确定所述微透镜阵列中每个微透镜下偏振通道在所述探测器阵列上的响应区域;

S3:采集各偏振通道对响应区域像元的响应对比度极值和相对应的坐标位置,拟合各个偏振响应像元的相位角,并根据相位角对像元所属的偏振通道进行划分;

S4:根据各通道响应在探测器像面的坐标位置所属的不同偏振通道分别进行质心求取得出各偏振通道在每个微透镜后的质心位置;

S5:对所述每个微透镜后的质心位置进行直线拟合得到多条拟合直线;以及

S6:求取所有拟合直线的交点得到各偏振通道在微透镜下的成像位置。

2.根据权利要求1所述的偏振多光谱成像系统的偏振通道定标方法,其特征在于,步骤S1进一步包括:

S101:根据已知光线辐射规律确定偏振通道响应表达一般形式;以及

S102:根据所述光场偏振成像系统确定偏振通道响应的具体表达形式。

3.根据权利要求2所述的偏振多光谱成像系统的偏振通道定标方法,其特征在于,所述确定所述微透镜阵列中每个微透镜下偏振通道在所述探测器阵列上的响应区域进一步包括:

设定对比度阈值;以及

当像元的对比度值大于所述对比度阈值时,判断其为偏振通道,记录下每一个偏振响应位置的区域坐标位置和响应值。

4.根据权利要求1所述的偏振多光谱成像系统的偏振通道定标方法,其特征在于,在步骤S3中,采用以下公式对每个偏振响应像元进行拟合出其初相位θ(x,y;s,t):

其中,I(x,y;s,t)(θ)为不同角度θ时探测器上某微透镜下覆盖像元的响应,(x,y)为探测器上的像素点位置,(s,t)为相对应的微透镜阵列中的二维坐标,A为拟合的响应幅值,为该像元的初相位,C为拟合出的响应常量。

5.根据权利要求1所述的偏振多光谱成像系统的偏振通道定标方法,其特征在于,步骤S5进一步包括:采用最小二乘法逐行和逐列拟合出每一行和每一列成像位置的拟合直线。

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