[发明专利]一种VA型液晶显示器定向摩擦深度的检测方法在审
申请号: | 201610288578.0 | 申请日: | 2016-05-04 |
公开(公告)号: | CN105759471A | 公开(公告)日: | 2016-07-13 |
发明(设计)人: | 林锐群;冯锰;方培泓;曾文韬;姚平武;陈志强;陈光普;林新丰;吴瑞欣 | 申请(专利权)人: | 汕头市锐科高新科技股份有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;G02F1/1337 |
代理公司: | 汕头市潮睿专利事务有限公司 44230 | 代理人: | 俞诗永;朱明华 |
地址: | 515800 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 va 液晶显示器 定向 摩擦 深度 检测 方法 | ||
技术领域:
本发明属于领域液晶加工技术中定向层加工方法,具体涉及的是一种VA型液晶显示器定向摩擦深度的检测方法。
背景技术:
随着全球电子科技产品发展日新月异,VA型液晶显示器产品的发展应用到各个行业或领域,人们对VA型液晶显示器产品在使用的关注点也从实用性到更高的需求:高对比度,宽视角,底色均匀性,安全性等等,VA类产品正是在这种需求下,近几年来得到快速的发展与应用;但高对比度,宽视角,底色均匀性,安全性等特性的获得,必需要有良好的空盒生产工艺方可满足条件。
为了满足空盒制作的特殊需求生产,在空盒制作制程中定向摩擦工艺起到关键作用,而在定向工艺中定向深度的检测与控制是直接影响空盒黑度和透光性能的主要管制点。现有的定向层的加工深度的是依据人工放置塞片进行检测的,具体方法为:塞规测试法。在摩擦平台上放置一片需要生产的产品厚度一样的试机片放置于定向毛轮的正下方,再取所需定向深度厚度尺寸的塞规放置于试机片上毛轮的正下方,然后手动将毛轮降下压在塞规上,轻轻抽动塞规,以刚好能轻轻带动毛轮转动为准,确认可以。这种方法由于依赖于操作者的感觉判定其塞规带动毛轮转动的情况,不同操作者的力度和感觉都可能出现偏差,故在VA产品上容易发生判定不准确,造成定向深度过深出现重影异常和定向不足(过浅)出现畴不良异常。存在人为的主观判断误差。因此出现了第二种检查方式,滴液检查法:先通过将定向毛轮钢轮校正原点,同时校正两端的百分表原点零位,再通过调整两端定向毛轮的高度,确认百分表读数刚好为定向深度。取二片已涂PI的同厚度试机片按产品要求进行试摩擦,并取滴管和LC液滴定在其中一片的已摩擦试机片PI层正面上,同时将另一片试机片根据定向角度和方向,翻转进行贴附一起压紧。等待约1~2分钟LC充分进行定向排列后,放置于显微镜下检查LC是否充分在定向沟槽上进行排列,从而确认判定是否合格。这种方法由于定向后LC排列,产品面积大,显微镜检查区域有限,且原点判断误差大,故在VA产品上容易发生判定不准确,造成定向深度过深出现重影异常和定向不足(过浅)出现畴不良异常。应用于此类VA型产品存在定向深度不稳定性导致空盒产品黑度差、斜视角透光发白、出现显示重影、畴不良等质量缺陷,有待急需改进。
发明内容:
针对现有技术存在的缺陷,本发明的目的是提供一种可以克服上述缺陷的VA型液晶显示器定向摩擦深度的检测方法。
本发明解决其技术问题所采取的技术方案是:一种VA型液晶显示器定向摩擦深度的检测方法,关键在于所述检测方法包括步骤:1)将已印刷好定向层的等同于产品厚度的试机片放置于定向毛轮下方;2)依据公式b=R-,其中b为准备获得的定向深度,R=R1+R2,R1为定向毛轮半径,R2为定向毛布+双面胶厚度,实际生产中,R1取65mm,R2取2.7mm;3)手动下降毛轮B距离,进行转动摩擦出测试幅宽,记录毛轮下降B距离的定位位置;4)手动上升毛轮,并取出已摩擦好测试幅宽A的试机片;5)用量尺测量试机片的测试幅宽A,并与定向幅宽a对比,以判定毛轮下降B距离的是否合格;6)不合格时,再调试定向毛轮高度,重复1)~5)步骤,
直至测试幅宽A与定向幅宽a相等。
所述的4)步骤之后,还包括下列步骤:将试机片已摩擦的定向层翻转至向下后置于离蒸气锅约20~30CM高度,蒸气锅内有沸腾状态的水;打开石英射灯,调整光斑到刚好从能全部照射在待测试的定向幅宽的试机片上,对试机片上的测试幅宽进行测量。
所述的步骤3)的继续维持为60秒时间。60秒可有效的地摩擦出测试幅宽。
所述的步骤5)包括对测量幅宽的左、中、右位置进行测量。
所述的测试幅宽与定向幅宽a可存在±1mm误差。
本发明的VA型液晶显示器定向摩擦深度的检测方法通过将定向深度转为定向幅宽进行可视直观测量检查方法,从而解决了现有第一种方式的塞规测试法的缺陷,其依赖操作者的感知判定或不同操作者感知判定误差的不足;将定向幅宽对应定向深度进行对应值原理检测方式,并同时检测出同一毛轮的左、中、右三个点的幅宽值控制±1MM内,从而解决了现有第二种方式,滴液检查法,容易发生显微镜下检查区域的局限造成LC排列状态的判定不准确的问题。从而解决了发生定向深度过深出现重影异常和定向不足(过浅)出现畴不良异常等缺点。从而解决了盒厚黑度差、斜视角透光异常。而提升VA产品成品率,使此类产品质得到稳定或保证。
附图说明:
图1为本发明背景技术塞规法示意图。
图2为本发明背景技术滴液法示意图。
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