[发明专利]一种颗粒粒度检测装置及检测方法在审
申请号: | 201610224899.4 | 申请日: | 2016-04-11 |
公开(公告)号: | CN105891066A | 公开(公告)日: | 2016-08-24 |
发明(设计)人: | 孔明;沈海栋;赵军;郭天太;王道档;刘维;单良;杨瑶;叶婷;贾茜媛;沈永 | 申请(专利权)人: | 中国计量学院 |
主分类号: | G01N15/02 | 分类号: | G01N15/02 |
代理公司: | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人: | 尉伟敏 |
地址: | 310018 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 颗粒 粒度 检测 装置 方法 | ||
【权利要求书】:
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国计量学院,未经中国计量学院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610224899.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种大视角拍照无人机
- 下一篇:一种直升机电台安装支架