[发明专利]电子装置及其数据验证方法

说明书

一种电子装置及其数据验证方法。此电子装置包括具有第一数据的第一只读存储器、具有第二数据的第二只读存储器以及控制器。第一数据与第二数据之间存在对应关系。控制器耦接于第一只读存储器与第二只读存储器。控制器从第一只读存储器读取第一数据中的第一子数据，并依据对应关系以从第二只读存储器读取相对于第一子数据的第二数据中的第二子数据。第一子数据包括待验证数据。控制器依据第一子数据、第二子数据以及对应关系以对待验证数据进行校验运算。

技术领域

本发明涉及一种电子装置及其数据验证方法，且特别涉及一种具备至少两个只读存储器的电子装置及其数据验证方法。

背景技术

只读存储器(Read-Only Memory；ROM)是一种半导体存储器，其特性是一旦储存数据就无法再将之改变或删除，且内容不会因为电源关闭而消失。因此，只读存储器时常被用以储存一些不需要经常变更的程序或数据，诸如电脑系统的基本输入输出系统(BasicInput Output System；BIOS)以及各种微电脑系统的固件等。

记录重要产品数据(Vital Product Data；VPD)是只读存储器的典型用途之一。此重要产品数据中包括诸如零件号(part number)及序号(serial number)等硬件或软件的重要信息。一般而言，只读存储器是以比特组作为最小存取单位。在将重要产品数据写入只读存储器时，经常会将重要产品数据系统性的分为多组数据，并且将每组数据的最后一个比特组定义为校验和(checksum)比特组。如此一来，在读取重要产品数据的部分内容时，为了验证被读取数据的正确性，除了读取出所需的部分内容以外，同时还必须读取此部分内容所在分组中的所有数据，才能对该组数据进行零校验和(zero-checksum)的验证。如此一来，验证数据正确性的流程中将可能读取大量不需要的比特组，导致数据验证效率的降低。

发明内容

本发明提供一种电子装置及其数据验证方法，能够降低电子装置中只读存储器在进行数据验证时的读取操作的次数，以提升数据验证的效率。

本发明的电子装置包括具有第一数据的第一只读存储器、具有第二数据的第二只读存储器以及控制器。第一数据与第二数据之间存在对应关系。控制器耦接于第一只读存储器以及第二只读存储器。控制器从第一只读存储器读取第一数据中的第一子数据，并且依据对应关系从第二只读存储器读取相对于所述第一子数据的第二数据中的第二子数据。待验证数据包含于所述第一子数据。控制器依据第一子数据、第二子数据以及对应关系以对待验证数据进行校验运算。

本发明的数据验证方法适于验证待验证数据。此数据验证方法包括以下步骤。设置第一只读存储器以及第二只读存储器，其中第一只读存储器具有第一数据，第二只读存储器具有第二数据，且第一数据与第二数据之间存在对应关系。从第一只读存储器中读取第一数据中的第一子数据，并依据对应关系以从第二只读存储器读取相对于第一子数据的第二数据中的第二子数据。所述待验证数据是包含于第一子数据。依据第一子数据、第二子数据以及对应关系以对待验证数据进行校验运算。

基于上述，本发明实施例在电子装置中设置了第一只读存储器之外的第二只读存储器，且第二只读存储器中的第二数据与第一只读存储器中的第一数据之间存在对应关系。据此，在验证第一数据中的待验证数据时，除待验证数据自身所在的第一只读存储器外，还同时利用第二只读存储器以及上述的对应关系来验证待验证数据。如此一来，可减少数据验证时所需读取操作的次数，以提升数据验证的效率。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。

附图说明

图1绘示本发明一实施例的电子装置的方块图。

图2绘示本发明一实施例的数据验证方法的示意图。