[发明专利]一种PCB双面开窗区域过孔及半塞处理方法在审

专利信息
申请号: 201610126136.6 申请日: 2016-03-07
公开(公告)号: CN105704920A 公开(公告)日: 2016-06-22
发明(设计)人: 陶燕 申请(专利权)人: 上海斐讯数据通信技术有限公司
主分类号: H05K1/11 分类号: H05K1/11;H05K3/40
代理公司: 上海硕力知识产权代理事务所 31251 代理人: 郭桂峰
地址: 201616 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 pcb 双面 开窗 区域 处理 方法
【权利要求书】:

1.一种PCB双面开窗区域过孔,其特征在于,其位于底面(1)与顶面(2) 的公共过孔(3)处,过孔(3)的周边设置有挡圈(4)。

2.根据权利要求1所述的PCB双面开窗区域过孔,其特征在于,所述的挡 圈(4)设置在PCB的非焊接面所在的过孔(3)周边。

3.根据权利要求1所述的PCB双面开窗区域过孔,其特征在于,所述的挡 圈(4)与过孔(3)为同心圆,挡圈(4)在过孔(3)的外侧。

4.根据权利要求1所述的PCB双面开窗区域过孔,其特征在于,所述的挡 圈(4)的外径尺寸与过孔(3)的内径尺寸的差值为3mil。

5.一种权利要求1~4中任意一项所述PCB双面开窗区域过孔半塞处理方 法,其特征在于,包括以下步骤:

S1,打开PCB文件,检测无误后,生成光绘文件;

S2,检查、定位双面开窗区域的过孔(3);

S3,判定非焊接面是顶面(2)还是底面(1);

S4,若底面(1)为非焊接面,在底面(1)上的过孔(3)处设置挡圈(4); 若顶面(2)为非焊接面,在顶面(2)上的过孔(3)处设置挡圈(4)。

6.根据权利要求5所述的PCB双面开窗区域过孔半塞处理方法,其特征在 于,所述的挡圈(4)的设置是在S1中生成的光绘文件上处理的。

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