[发明专利]一种PCB双面开窗区域过孔及半塞处理方法在审
申请号: | 201610126136.6 | 申请日: | 2016-03-07 |
公开(公告)号: | CN105704920A | 公开(公告)日: | 2016-06-22 |
发明(设计)人: | 陶燕 | 申请(专利权)人: | 上海斐讯数据通信技术有限公司 |
主分类号: | H05K1/11 | 分类号: | H05K1/11;H05K3/40 |
代理公司: | 上海硕力知识产权代理事务所 31251 | 代理人: | 郭桂峰 |
地址: | 201616 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 pcb 双面 开窗 区域 处理 方法 | ||
1.一种PCB双面开窗区域过孔,其特征在于,其位于底面(1)与顶面(2) 的公共过孔(3)处,过孔(3)的周边设置有挡圈(4)。
2.根据权利要求1所述的PCB双面开窗区域过孔,其特征在于,所述的挡 圈(4)设置在PCB的非焊接面所在的过孔(3)周边。
3.根据权利要求1所述的PCB双面开窗区域过孔,其特征在于,所述的挡 圈(4)与过孔(3)为同心圆,挡圈(4)在过孔(3)的外侧。
4.根据权利要求1所述的PCB双面开窗区域过孔,其特征在于,所述的挡 圈(4)的外径尺寸与过孔(3)的内径尺寸的差值为3mil。
5.一种权利要求1~4中任意一项所述PCB双面开窗区域过孔半塞处理方 法,其特征在于,包括以下步骤:
S1,打开PCB文件,检测无误后,生成光绘文件;
S2,检查、定位双面开窗区域的过孔(3);
S3,判定非焊接面是顶面(2)还是底面(1);
S4,若底面(1)为非焊接面,在底面(1)上的过孔(3)处设置挡圈(4); 若顶面(2)为非焊接面,在顶面(2)上的过孔(3)处设置挡圈(4)。
6.根据权利要求5所述的PCB双面开窗区域过孔半塞处理方法,其特征在 于,所述的挡圈(4)的设置是在S1中生成的光绘文件上处理的。
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