[发明专利]集成电路管脚测试装置

说明书

本发明公开了一种集成电路管脚测试装置，包括主板和扩展板；主板上设置的微控制器的第一输出端与扩展板上设置的复杂可编程逻辑器件的输入端电连接，用于将接收到的测试指令传送至复杂可编程逻辑器件；复杂可编程逻辑器件的输出端与开关模块的第一输入端电连接；开关模块的第一输出端，适用于电连接被测集成电路中的被测管脚；复杂可编程逻辑器件根据测试指令控制开关模块中相应的开关导通；微控制器的第二输出端与恒流源的输入端电连接；恒流源的输出端电连接开关模块的第二输入端；微控制器接收到测试指令后控制恒流源向被测管脚输入相应的测试电流。其有效解决了传统的OS测试仪的内部硬件电路结构复杂导致体积较大，不利于携带的问题。

技术领域

本发明涉及集成电路测试领域，特别是涉及一种集成电路管脚测试装置。

背景技术

通常SOC(System on chip，片上系统或系统级芯片)在客户端量产过程中(SMT/Assemble)由于ESD(Electrical Static Discharge，静电释放)/EOS(Electrical OverStress，过度电性应力)原因，使得芯片出现pin to VCC short(接电源端引脚短路)和pinto GND short(接地端引脚短路)现象，导致芯片不能正常工作。由于ESD/EOS的发生具有随机性和隐蔽性，并且芯片的管脚数目较多，因此在短时间内很难对出现短路的管脚进行定位，因而也就无法快速定位ESD/EOS场景。因此需要采用第三方OS(Open/Short)测试仪(即，管脚开短路测试仪)对芯片的管脚进行测试。但是，传统的OS测试仪，其内部硬件电路结构非常复杂，并且体积较大，不利于携带，从而不便于进行现场测试。

发明内容

基于此，有必要针对传统的OS测试仪的内部硬件电路结构复杂导致生产成本较大，且不利于携带的问题，提供一种集成电路管脚测试装置。

为实现本发明目的提供的一种集成电路管脚测试装置，包括主板和扩展板；

所述主板上设置有微控制器和恒流源；

所述扩展板上设置有复杂可编程逻辑器件和开关模块；

所述微控制器的第一输出端与所述复杂可编程逻辑器件的输入端电连接，用于将接收到的测试指令传送至所述复杂可编程逻辑器件；

所述复杂可编程逻辑器件的输出端与所述开关模块的第一输入端电连接；所述开关模块的第一输出端，适用于电连接被测集成电路中的被测管脚；

所述复杂可编程逻辑器件，用于接收所述测试指令后，根据所述测试指令控制所述开关模块中相应的开关导通；

所述微控制器的第二输出端与所述恒流源的输入端电连接；所述恒流源的输出端电连接所述开关模块的第二输入端；

所述微控制器，还用于在接收到所述测试指令后控制所述恒流源通过所述开关模块中导通的所述开关向所述被测管脚输入相应的测试电流，进行所述被测管脚的测试。

在其中一个实施例中，所述主板上还配置有模数转换器；

所述模数转换器电连接在所述开关模块的第二输出端与所述微控制器之间，用于采集并转换所述被测管脚在所述测试电流的驱动下的测试结果信号。

在其中一个实施例中，所述恒流源内部集成有用于采集所述模数转换器的工作电压的电压跟随器。

在其中一个实施例中，所述主板上还设置有电源转换电路；

所述电源转换电路的输入端，适用于电连接供电电源；

所述电源转换电路具有多个输出端；且

所述电源转换电路的多个输出端分别与所述微控制器的电压输入端、所述恒流源的电压输入端和所述开关模块的电压输入端一一对应电连接，用于分别向所述微控制器、所述恒流源和所述开关模块中的开关提供相应的驱动电压。