[发明专利]一种应用于化学发光测定的制冷系统

权利要求书

1.一种应用于化学发光测定的制冷系统，其特征在于，包括导气罩、上壳罩、下壳罩、半导体制冷片、散热风扇、冷风风扇、导冷片、支撑块和散热片；

所述上壳罩与下壳罩相连，

所述的导冷片设于上壳罩内部，所述的散热片设于下壳罩内部；

所述支撑块支撑散热片于下壳罩内；

所述导气罩设于冷风风扇的出风口处并与上壳罩相连接，形成一个气流通道；

所述的半导体制冷片位于导冷片和散热片中间，所述半导体制冷片的冷面紧贴导冷片，其热面紧贴散热片；所述的导冷片与散热片连接；

所述冷风风扇设于导冷片上方并紧贴在导冷片上；

所述散热风扇设于散热片的下方并紧贴在散热片上。

2.根据权利要求1所述的一种应用于化学发光测定的制冷系统，其特征在于，所述上壳罩与下壳罩通过螺钉相连。

3.根据权利要求1所述的一种应用于化学发光测定的制冷系统，其特征在于，所述的制冷系统还包括保温棉，所述的保温棉位于上壳罩与下壳罩之间。

4.根据权利要求1所述的一种应用于化学发光测定的制冷系统，其特征在于，所述的支撑块设于散热片两侧，所述的支撑块的高度不高于散热片与半导体制冷片的接触面。

5.根据权利要求1所述的一种应用于化学发光测定的制冷系统，其特征在于，所述的导冷片通过塑料螺钉与散热片连接。

6.根据权利要求1所述的一种应用于化学发光测定的制冷系统，其特征在于，所述的散热风扇有两个，两个散热风扇的叶片安装方向相反，两个散热风扇之间设有隔板。

7.根据权利要求6所述的一种应用于化学发光测定的制冷系统，其特征在于，所述的隔板固定在下壳罩内，其下平面与下壳罩的底面相平，上平面与散热片的齿顶相接。

8.根据权利要求1所述的一种应用于化学发光测定的制冷系统，其特征在于，所述的制冷系统还包括固定座和底板，所述下壳罩通过固定座和底板相连，将制冷系统固定在底板上。