[发明专利]空间绘画计分方法、用于进行空间绘画计分的装置及系统

权利要求书

1.一种空间绘画计分方法，该方法适于一电子装置，该方法包括：

产生一第一空间图案；

记录该电子装置的一移动轨迹及多个移动参数，并转换所记录的该移动轨迹为一第二空间图案；

计算该第一空间图案及该第二空间图案之间的一相似度；以及

依据该些移动参数以及该相似度计算完成该第二空间图案的一分数；

其中该些移动参数包括一总移动距离以及一平均速度；

其中在依据该些移动参数、该相似度计算完成该第二空间图案的该分数的步骤之前，还包括依据该电子装置的该些移动参数及该第一空间图案的一困难度计算完成该第二空间图案的一复杂度，以通过该第二空间图案的该复杂度来修正该第二空间图案的该分数。

2.如权利要求1所述的方法，其中记录该电子装置的该移动轨迹及该些移动参数，并转换所记录的该移动轨迹为该第二空间图案的步骤包括：

反应于一启动操作而开始基于一取样周期记录该电子装置的多个坐标，其中该些坐标形成该移动轨迹；

反应于一停止操作而停止记录该电子装置的该些坐标；

依据该些坐标计算该电子装置在从该启动操作至该停止操作的一期间中移动的该总移动距离，并据以计算该电子装置在该期间中的该平均速度；以及

连接该些坐标以产生该第二空间图案。

3.如权利要求1所述的方法，其中计算该第一空间图案及该第二空间图案之间的该相似度的步骤包括：

缩放该第一空间图案为一第三空间图案，并映射该第三空间图案至一二维空间；

映射该第二空间图案至该二维空间，并在该二维空间中对齐该第二空间图案与该第三空间图案；

在该二维空间中取出多条参考线；

找出该些参考线相交于该第二空间图案的多个第一参考点，以及找出该些参考线相交于该第三空间图案的多个第二参考点；

分别排序该些参考线中的第i个参考线对应的该些第一参考点及该些第二参考点，其中对应所述第i个参考线的该些第一参考点的数量为一第一数量，对应所述第i个参考线的该些第二参考点的数量为一第二数量，其中i为正整数；

计算第j个第一参考点与第j个第二参考点之间的一距离，其中j为不大于一第三数量的整数，且该第三数量为该第一数量与该第二数量中的一较小者；以及

依据该距离与该第三空间图案的一面积计算该相似度。

4.如权利要求3所述的方法，其中缩放该第一空间图案为该第三空间图案，并映射该第三空间图案至该二维空间的步骤包括：

计算该第一空间图案的一第一面积与该第二空间图案的一第二面积之间的一比例值，其中该比例值大于1；

依据该比例值放大该第一空间图案为该第三空间图案；

映射该第三空间图案至该二维空间，并设定该第三空间图案的质心为该二维空间的一原点；

其中，映射该第二空间图案至该二维空间，并在该二维空间中对齐该第二空间图案与该第三空间图案的步骤包括：

映射该第二空间图案至该二维空间，并移动该第二空间图案以使该第二空间图案的质心位于该原点；以及

旋转该第二空间图案以使该第二空间图案与该第三空间图案之间的一重合面积为最大。

5.如权利要求1所述的方法，其中该第一空间图案为具有至少一顶点及至少一区域的一二维图案，该些移动参数包括该电子装置在绘制该第二空间图案时经历的一高度差以及一总移动距离，且依据该电子装置的该些移动参数及该第一空间图案的该困难度计算完成该第二空间图案的该复杂度的步骤包括：

基于该高度差以及该总移动距离计算一高度差分数；

基于该至少一顶点的数量及该至少一区域的数量计算以单一笔画连接该些顶点的一步骤数，并据以推得该第一空间图案的该困难度；以及

求和该高度差分数及该困难度为该复杂度。

6.如权利要求1所述的方法，其中在依据该些移动参数、该相似度计算完成该第二空间图案的该分数的步骤之后，还包括将该分数与乘以一权重的该复杂度求和以修正该分数。