[发明专利]一种恒流二极管结构及其形成方法有效
申请号: | 201610082486.7 | 申请日: | 2016-02-05 |
公开(公告)号: | CN105551969B | 公开(公告)日: | 2018-12-11 |
发明(设计)人: | 王英杰 | 申请(专利权)人: | 成都士兰半导体制造有限公司 |
主分类号: | H01L21/337 | 分类号: | H01L21/337;H01L29/808 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 余毅勤 |
地址: | 610404 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 二极管 结构 及其 形成 方法 | ||
1.一种恒流二极管结构,其特征在于,包括:
P型衬底;
形成于所述P型衬底正面上的N型外延层;
形成于所述N型外延层中的P型栅极区、N型源区、N型漏区、P型发射区以及P型隔离;以及
形成于所述P型栅极区、N型源区以及P型发射区上的正面电极;
其中,所述P型衬底、N型外延层和P型发射区组成PNP三极管,所述N型源区、P型栅极区、N型外延层、N型漏区组成恒流二极管。
2.如权利要求1所述的恒流二极管结构,其特征在于,所述P型栅极区、N型源区、N型漏区、P型发射区以及P型隔离的掺杂浓度大于所述N型外延层的掺杂浓度。
3.如权利要求2所述的恒流二极管结构,其特征在于,所述P型栅极区、P型发射区、P型隔离和P型衬底均为P型重掺杂,所述N型源区和N型漏区均为N型重掺杂。
4.如权利要求1所述的恒流二极管结构,其特征在于,所述N型源区和N型漏区的深度小于所述P型栅极区和P型发射区的深度。
5.如权利要求1所述的恒流二极管结构,其特征在于,所述P型隔离穿透所述N型外延层与所述P型衬底相连。
6.如权利要求1所述的恒流二极管结构,其特征在于,还包括形成于所述P型衬底背面上的背面电极。
7.如权利要求1所述的恒流二极管结构,其特征在于,所述P型发射区和P型栅极区同时扩散形成。
8.如权利要求1至7中任一项所述的恒流二极管结构,其特征在于,所述P型发射区为条形结构,所述N型漏区为环形结构,且所述N型漏区包围所述P型发射区。
9.如权利要求1至7中任一项所述的恒流二极管结构,其特征在于,所述恒流二极管结构包括两个P型栅极区和两个N型源区,所述两个P型栅极区和所述两个N型源区均为条形结构,且所述两个P型栅极区位于所述N型漏区的两侧,所述两个N型源区位于所述两个P型栅极区的两侧。
10.如权利要求1至7中任一项所述的恒流二极管结构,其特征在于,所述P型隔离为环形结构,且所述P型隔离包围所述N型源区。
11.如权利要求1至7中任一项所述的恒流二极管结构,其特征在于,所述P型衬底作为所述PNP三极管的集电极,所述N型外延层作为所述PNP三极管的基极,所述P型发射区作为所述PNP三极管的发射极。
12.如权利要求11所述的恒流二极管结构,其特征在于,所述PNP三极管的基极电流经过P型发射区后,依次流经N型漏区、N型外延层、P型栅极区、N型源区,最后经由P型隔离从P型衬底的背面流出;所述PNP三极管的集电极电流经过P型发射区后,流经N型外延层从P型衬底的背面流出。
13.一种恒流二极管结构的形成方法,其特征在于,包括:
提供一P型衬底;
在所述P型衬底正面上形成N型外延层;
在所述N型外延层中形成P型栅极区、N型源区、N型漏区、P型发射区以及P型隔离;以及
在所述P型栅极区、N型源区以及P型发射区上形成正面电极;
其中,所述P型衬底、N型外延层和P型发射区组成PNP三极管,所述N型源区、P型栅极区、N型外延层、N型漏区组成恒流二极管。
14.如权利要求13所述的恒流二极管结构的形成方法,其特征在于,在所述N型外延层中形成P型栅极区、N型源区、N型漏区、P型发射区以及P型隔离的步骤包括:
在所述N型外延层中形成所述P型隔离;
在所述N型外延层中形成所述P型栅极区和P型发射区;
在所述N型外延层中形成所述N型源区和N型漏区。
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