[发明专利]存储器内读操作定时器数值的测试方法及装置

说明书

一种存储器内读操作定时器数值的测试方法及装置。所述方法包括：向所述存储器内输入地址信号以及控制信号，通过所述控制信号控制所述存储器内部的读取电路按照所述地址信号执行读取操作；调整所输入的地址信号的翻转周期，并检测所述存储器按照调整后的所述地址信号执行所述读取操作时，平均功耗的变化情况；当检测到所述平均功耗的变化趋势发生跳变时，将所述平均功耗的变化趋势发生跳变时对应的所述地址信号的翻转周期，作为所述存储器内所述读操作定时器的数值并输出。应用所述方法可以在存储器封装后，获得存储器内读操作定时器的数值，便于用户使用。

技术领域

本发明涉及存储器技术领域，具体涉及一种存储器内读操作定时器数值的测试方法及装置。

背景技术

存储器(Memory)是计算机系统中的记忆设备，用来存放程序和数据。计算机中全部信息，包括输入的原始数据、计算机程序、中间运行结果和最终运行结果都保存在存储器中。

通常，按照所计时的对象不同，每个存储器内可以包含多个定时器。比如，存储器内可以包含用于对读操作进行计时的读操作定时器，用于对写操作进行计时的写操作定时器，以及用于对擦除操作进行计时的擦除操作定时器等等。

在实际应用中，往往需要获取存储器内读操作定时器的数值，进而通过所述数值对存储器的某些特性进行分析。目前，获取存储器内读操作定时器数值的通常做法是：在对存储器进行封装前，使用特定的仪器在存储器的非钝化表面进行扎针，来获取存储器内部产生的读操作控制信号。由于读操作控制信号为控制存储器内部的读取电路执行读取操作的时间信号，因此根据读操作控制信号可以获知读取电路每次执行读操作所耗时间，也就获得了读操作计时器的数值。

然而，上述做法只能在存储器封装前实施，不适用于在存储器封装后实施，给用户使用带来不便。

发明内容

本发明解决的技术问题是如何在存储器封装后，获得存储器内读操作定时器的数值，便于用户使用。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种存储器内读操作定时器数值的测试方法，所述方法包括：

向所述存储器内输入地址信号以及控制信号，通过所述控制信号控制所述存储器内部的读取电路按照所述地址信号执行读取操作；调整所输入的地址信号的翻转周期，并检测所述存储器按照调整后的所述地址信号执行所述读取操作时，平均功耗的变化情况；当检测到所述平均功耗的变化趋势发生跳变时，将所述平均功耗的变化趋势发生跳变时对应的所述地址信号的翻转周期，作为所述存储器内所述读操作定时器的数值并输出。

可选地，所述调整所输入的地址信号的翻转周期，包括：缩短所述地址信号的翻转周期。

可选地，所述平均功耗的变化趋势发生跳变为在[1ns，10ns]内数值变化大于1％。

本发明实施例还提供了一种存储器内读操作定时器数值的测试装置，所述装置包括：

输入单元，适于向所述存储器内输入地址信号以及控制信号，通过所述控制信号控制所述存储器内部的读取电路按照所述地址信号执行读取操作；测试单元，适于调整所输入的地址信号的翻转周期，并检测所述存储器按照调整后的所述地址信号执行所述读取操作时，平均功耗的变化情况；输出单元，适于当检测到所述平均功耗的变化趋势发生跳变时，将所述平均功耗的变化趋势发生跳变时对应的所述地址信号的翻转周期，作为所述存储器内所述读操作定时器的数值并输出。

可选地，所述测试单元适于缩短所述地址信号的翻转周期，并检测所述存储器按照调整后的所述地址信号执行所述读取操作时，平均功耗的变化情况。

可选地，所述输出单元适于在检测到所述平均功耗在[1ns，10ns]内变化大于1％时，确定所述平均功耗发生跳变。

与现有技术相比，本发明实施例的技术方案具有以下有益效果：