[发明专利]温度测量电路及其测量方法在审
申请号: | 201610048226.8 | 申请日: | 2016-01-25 |
公开(公告)号: | CN105547514A | 公开(公告)日: | 2016-05-04 |
发明(设计)人: | 赵静;张凯;王波 | 申请(专利权)人: | 四川长虹电器股份有限公司 |
主分类号: | G01K7/22 | 分类号: | G01K7/22 |
代理公司: | 成都虹桥专利事务所(普通合伙) 51124 | 代理人: | 李凌峰 |
地址: | 621000 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 温度 测量 电路 及其 测量方法 | ||
技术领域
本发明涉及温度测量,特别涉及使用热敏电阻测量温度时,减小温度测量误差的方法。
背景技术
温度测量技术广泛应用在生产、生活的各方面,更是制冷、制热产品中的基础技术和关 键技术,温度测量的误差直接影响到产品的性能和用户体验。热敏电阻具有体积小、灵敏度 高、可靠性高、成本低等特点,在空调、冰箱温度测量中得到大量的应用,其测温原理是热 敏电阻在不同的温度下呈现出不同的电阻值,可根据热敏电阻的电阻值,通过计算或查表的 方法得到温度值,因此热敏电阻阻值测量的误差直接影响到温度测量的误差。在实际应用中, 热敏电阻阻值测量普遍使用分压、电桥等方法测量。以电阻分压法为例,其原理图如附图1 所示,将标准电阻RC、热敏电阻RT串联在电源VCC和地之间,中间接在单片机模拟电压采 样口ADC上,根据电阻分压公式可以计算出Rt的值:
上述公式中,Rt的误差取决于Vt、Rc、Vcc的误差,其中Vt是通过单片机AD采样口实 时测出的电压值,Rc为标准电阻RC的电阻值,Vcc是电源VCC的电压值。在实际应用时VCC 除了用于给温度测量电路供电外,还给其他众多的电路模块供电,不同时间各电路模块工作 状态不同,即VCC的负载是动态变化的,再加上受电磁干扰等因素影响,Vcc的值会有大幅 度的波动,因此采用上述方法测量出的Rt值误差较大。
另一方面,采用分压、电桥测量方法时,热敏电阻RT中长时间有电流流过,热敏电阻将 长时间发热,累积的热量造成电阻值变化,将产生自热误差。
发明内容
本发明所要解决的技术问题,就是提供一种温度测量电路及其测量方法以达到使用热敏 电阻测量温度时,减小温度测量误差的效果。
本发明解决所述技术问题,采用的技术方案是,温度测量电路,包括单片机、标准电阻、 热敏电阻及电容;
所述标准电阻的一端与单片机输入输出引脚IO1连接,标准电阻的另一端与单片机触发 输入引脚CP1连接;
所述热敏电阻的一端与单片机输入输出引脚IO2连接,热敏电阻的另一端与单片机触发 输入引脚CP1连接;
所述电容一端与单片机触发引脚CP1连接,另一端接地;
所述单片机,用于根据预设程序控制输入输出引脚IO1、输入输出引脚IO2及触发输入 引脚CP1的控制状态,通过标准电阻对电容进行充电,计算标准充电时间;通过热敏电阻对 电容进行充电,计算热敏充电时间;根据标准电阻阻值、标准充电时间及热敏充电时间计算 出热敏电阻当前阻值,并根据热敏电阻当前阻值计算出当前温度。
具体的,所述标准充电时间为通过标准电阻对完全放电后的电容进行充电,当电压值达 到单片机高电压值所用的时间;
所述热敏充电时间为通过热敏电阻对完全放电后的电容进行充电,当电压值达到单片机 高电压值所用的时间。
进一步的,所述标准充电时间计算公式为:
其中,Tc为标准充电时间,Rc为标准电阻阻值,C1为电容值,Vcc为电源电压,Vh为单 片机高电压。
进一步的,所述热敏充电时间计算公式为:
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