[发明专利]膜制造方法、膜制造装置

说明书

膜制造方法包括：缺陷信息取得工序，取得包含隔膜卷料(12b)的缺陷(D)的位置信息的缺陷信息；分切工序，将隔膜卷料(12b)分切而得到多个隔膜(12a)；以及判定工序，根据一个与缺陷(D)相关的缺陷信息，将实际含有缺陷(D)的隔膜(12a)以及与该隔膜(12a)邻接的其他隔膜(12a)判定为不合格隔膜。

技术领域

本发明涉及膜制造方法、膜制造装置、膜以及膜卷绕体。

背景技术

已知具有光学膜的片状产品的缺陷检查装置(专利文献1)。该缺陷检查装置将从保护膜检查部得到的缺陷的信息与其位置信息、制造识别信息一起作为码数据(二维码、QR码(注册商标))而以规定间距形成在PVA膜卷料的一端面。

由此，在取得片状产品的缺陷的位置信息后，能够确定通过在分切工序中将片状产品沿长度方向切断而得到的多个膜中的哪个膜含有缺陷。由此，通过对具有缺陷的膜实施将具有缺陷的位置切除等适当的处置，能够制造不具有缺陷的膜。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：日本公开专利公报特开2008-116437号公报(2008年5月22日公开)

发明内容

发明所要解决的课题

然而，在即使取得作为膜卷料的片状产品的缺陷的位置信息也无法在分切工序中在所希望的分切位置将膜卷料切断的情况下，无法准确地确定多个膜中的哪个膜含有缺陷，从而尽管是具有缺陷的不合格膜也判定为合格膜。其结果是，无法对不合格膜实施适当的处置，不合格膜有时会作为合格膜而流出。

本发明的目的在于，提供在通过将膜卷料切断而得到膜的情况下降低将具有缺陷的膜判定为合格膜的风险的膜制造方法、膜制造装置、膜以及膜卷绕体。

用于解决课题的方案

为了解决上述的课题，本发明所涉及的膜制造方法的特征在于，包括：缺陷信息取得工序，取得包括膜卷料的缺陷的位置信息的缺陷信息；分切工序，将所述膜卷料在沿着长度方向的分切线处分切而得到多个膜；以及判定工序，根据一个与所述缺陷相关的所述缺陷信息来进行分切后的膜的不合格判定，从而将实际含有所述缺陷的膜以及与该膜邻接的其他膜判定为不合格膜。

根据上述的制造方法，通过进行分切后的膜的不合格判定，其结果是，不仅将实际含有缺陷的膜判定为不合格膜，还将与该膜邻接的其他膜也判定为不合格膜。由此，即使在由于在从所希望的分切位置偏移的位置处将膜卷料分切而使原本应当含有缺陷含的膜中不含有缺陷而与该膜邻接的其他膜中含有缺陷的情况下，也能够降低错误地将具有缺陷的膜判定为合格膜的风险。

在本发明所涉及的膜制造方法中，也可以在所述缺陷信息取得工序中，取得将所述膜卷料的表面的区域划分为沿宽度方向排列的多个区域而成的各个分割区域的有无缺陷的信息来作为所述缺陷信息，在所述判定工序中，根据与具有所述缺陷的一个所述分割区域相关的所述缺陷信息，将包括具有所述缺陷的所述分割区域而得到的膜以及与该膜邻接的其他膜判定为不合格膜。

根据上述的制造方法，取得膜卷料的各个分割区域的有无缺陷的信息，将与实际含有缺陷的膜邻接的其他膜判定为不合格膜。这样，根据与各分割区域的有无缺陷相关的简易的信息，将上述其他膜判定为不合格膜，因此能够降低错误地将具有缺陷的膜判定为合格膜的风险。

在本发明所涉及的膜制造方法中，也可以在所述分切工序中，在沿着所述分割区域的边界线的分切线处将所述膜卷料分切，在所述判定工序中，将所述其他膜判定为不合格膜，所述其他膜包括隔着具有所述缺陷的所述分割区域的边界线而与该分割区域邻接的分割区域而得到。

在沿着具有缺陷的分割区域的边界线的分切线处将膜卷料分切的情况下，因分切位置偏移而在与原本应当含有缺陷的膜邻接的其他膜中容易含有缺陷。