[发明专利]膜制造方法、膜制造装置

权利要求书

1.一种膜制造方法，其特征在于，包括：

缺陷信息取得工序，取得包括膜卷料的缺陷的位置信息的缺陷信息；

分切工序，将所述膜卷料在沿着长度方向的分切线处分切而得到多个膜；以及

判定工序，根据一个与所述缺陷相关的所述缺陷信息来进行分切后的膜的不合格判定，从而将实际含有所述缺陷的膜以及与该膜邻接的其他膜判定为不合格膜，

在所述缺陷信息取得工序中，取得将所述膜卷料的表面的区域划分为沿宽度方向排列的多个区域而成的各个分割区域的有无缺陷的信息来作为所述缺陷信息，

在所述判定工序中，根据与具有所述缺陷的一个所述分割区域相关的所述缺陷信息，将包括具有所述缺陷的所述分割区域而得到的膜以及与该膜邻接的其他膜判定为不合格膜。

2.根据权利要求1所述的膜制造方法，其特征在于，

在所述分切工序中，在沿着所述分割区域的边界线的分切线处将所述膜卷料分切，

在所述判定工序中，将所述其他膜判定为不合格膜，所述其他膜包括隔着具有所述缺陷的所述分割区域的边界线而与该分割区域邻接的分割区域而得到。

3.根据权利要求2所述的膜制造方法，其特征在于，

在所述分切工序中，以与多个分割区域对应地得到各所述膜的方式，在沿着所述分割区域的边界线的分切线处将所述膜卷料分切，

在所述判定工序中，将所述其他膜判定为不合格膜，所述其他膜包括隔着所述多个分割区域中的位于端部且具有缺陷的所述分割区域的边界线而与该分割区域邻接的分割区域而得到，所述多个分割区域与各所述膜对应。

4.根据权利要求3所述的膜制造方法，其特征在于，

在所述分切工序中，以与三个分割区域对应地得到各所述膜的方式，在沿着所述分割区域的边界线的分切线处将所述膜卷料分切，

在所述判定工序中，将所述其他膜判定为不合格膜，所述其他膜包括隔着所述三个分割区域中的位于端部且具有缺陷的所述分割区域的边界线而与该分割区域邻接的分割区域而得到，所述三个分割区域与各所述膜对应。

5.根据权利要求1所述的膜制造方法，其特征在于，

在所述分切工序中，在将所述分割区域裁开的分切线处将所述膜卷料分切，

在所述判定工序中，将包括具有所述缺陷的所述分割区域被裁开而成的区域而得到的两个膜判定为不合格膜。

6.根据权利要求5所述的膜制造方法，其特征在于，

在所述缺陷信息取得工序中，取得相互交替排列的第一分割区域和宽度比所述第一分割区域的宽度宽的第二分割区域的有无缺陷的信息来作为所述缺陷信息，

在所述分切工序中，在将所述第一分割区域裁开的分切线处将所述膜卷料分切，

在所述判定工序中，将包括具有所述缺陷的所述第一分割区域被裁开而成的区域而得到的两个膜判定为不合格膜。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的膜制造方法，其特征在于，

所述膜制造方法包括缺陷信息记录工序，在该缺陷信息记录工序中，记录所述膜卷料的在长度方向上具有规定长度的各个单位区域的所述缺陷信息。

8.根据权利要求7所述的膜制造方法，其特征在于，

在所述缺陷信息记录工序中，记录所述单位区域的各个所述分割区域的有无所述缺陷的信息。

9.根据权利要求8所述的膜制造方法，其特征在于，

在所述缺陷信息记录工序中，根据所述单位区域的缺陷的个数来切换第一模式和第二模式，

在所述第一模式下，记录从由所述单位区域的缺陷的个数的信息、各缺陷的位置信息、以及各缺陷的大小的信息构成的组中选出的至少任一个信息来作为所述缺陷信息，

在所述第二模式下，记录所述单位区域的各个所述分割区域的有无所述缺陷的信息来作为所述缺陷信息。