[发明专利]光测量装置及光测量方法

说明书

技术领域

本发明的一个方面涉及光测量装置及光测量方法。

背景技术

一直以来，已知有一种对成为测定对象的试样照射激发光并检测测量光的光测量装置。作为该种技术，例如在专利文献1中记载有一种绝对荧光量子效率测定装置，其在求出内部量子效率(发光量子收率)时，根据积分球内的基于分光反射率标准的反射率测定值与试样的反射率测定值而求出试样的吸收率。

例如在专利文献2中记载有一种量子效率测定装置，其测定在试样透过后的激发光反射至积分空间内那样的状态下被试样吸收的激发光，且测定在透过试样后的激发光不反射至积分空间内那样的状态下自试样产生的光。专利文献2所记载的量子效率测定装置中，通过进行这样的2阶段的测量处理，从而降低再激发(二次激发)所导致的测定误差。在非专利文献1～3中记载有以被试样内包(覆盖)的方式以规定的光束截面照射激发光，且以激发光的照射位置上的试样的面积(以下也简称为“试样的面积”)大于规定的光束截面(光束直径)为前提，计算出内部量子效率或外部量子效率(＝内部量子效率×吸收率)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开平9-292281号公报

专利文献2：日本特开2003-215041号公报

非专利文献

非专利文献1：“Measurement of absolute photoluminescence quantum efficiencies in conjugated polymers Chemical Physics Letters Volume 241”,Issues 1-2,14July 1995,Pages 89-96,N.C.Greenham,I.D.W.Samuel,G.R.Hayes,R.T.Phillips,Y.A.R.R.Kessener,S.C.Moratti,A.B.Holmes,R.H.Friend

非专利文献2：“An improved experimental determination of external photoluminescence quantum efficiency Advanced Materials”、Vol.9,Issue 3,March 1997,Pages 230-232,John C.de Mello,H.Felix Wittmann,Richard H.Friend

非专利文献3：“使用积分球的绝对荧光量子效率测定法的理论研究”，第71次应用物理学会学术演讲会(2010年9月12日)，14p-NK-6，市野善朗(2010.9.12)14p-NK-6

发明内容

发明所要解决的技术问题

在上述现有技术中，如上所述，为了计算出吸收率或内部量子效率、外部量子效率等光特性，谋求将激发光以规定的光束截面照射至积分器内的试样，并检测自积分器输出的测量光。再者，吸收率是与反射率具有正反的关系的参数，且与“1－反射率”同义。

然而，根据试样的面积与激发光的规定的光束截面的面积的大小关系(规定的光束截面被试样覆盖或覆盖试样)，有估计为计算出的光特性与真值不同的担忧。发现了光特性中吸收率或外部量子效率例如如下式(i)所示可使用和规定的光束截面与试样的面积比相关的面积比修正值而精度良好地求出，但存在难以测量积分器内的激发光的光束截面的面积的情况。

H＝(S₂/S₁)×H'…(i)

H：修正后的光特性，H'：修正前的光特性，

S₁：试样的面积，S₂：激发光的规定的光束截面的面积

本发明的一个方面的课题在于，提供一种即使不直接测量激发光的光束截面的面积，也可精度良好地求出光特性的光测量装置及光测量方法。

解决问题的技术手段