[实用新型]基于光热检测和光学显微的光学材料缺陷实时成像装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及光学材料缺陷检测技术领域，具体是一种基于光热检测和光学显微的光学材料缺陷实时成像装置。

背景技术

光学材料如薄膜样品或晶体材料的缺陷检测有很多种方法，光学显微技术、散射成像技术、光热检测技术等都可以实现光学材料的缺陷检测。光热检测技术是测量弱吸收的一种有效手段，具有灵敏度高、非接触式、不受样品表面或内部散射光的影响等优点。但是，传统的光热检测装置主要是靠人眼选择检测区域，更细微的标志无法分辨，因此，很有必要在光热检测装置中加一双“眼睛”，便于观察样品上需要检测的区域。光学显微技术，利用光学原理把人眼所不能分辨的微小物体放大成像，以供人们提取微细结构信息，观测样品的光学缺陷，但是，只能观测样品表面缺陷，无法观测样品内部缺陷。光热检测技术主要用于检测样品的吸收缺陷，包括表面和亚表面缺陷，是一种有效的缺陷检测技术。因此，有必要将光热检测和光学显微技术结合在一起，设计一种双模态的光学材料缺陷实时成像装置。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种基于光热检测和光学显微的光学材料缺陷实时成像装置，解决目前光热检测技术无法观测样品检测区域、光学显微技术无法检测样品内部缺陷的问题。

本实用新型的技术方案为：

一种基于光热检测和光学显微的光学材料缺陷实时成像装置，包括用于放置样品的样品台以及分别与样品光路连接的泵浦光源、探测光源、光学照明光源和探测装置；

所述泵浦光源与样品之间设有泵浦光聚焦装置，所述探测光源与样品之间设有探测光第一聚焦装置，所述样品位于泵浦光聚焦装置和探测光第一聚焦装置的焦平面处；

所述光学照明光源与样品之间依次设有光学照明光分束装置和光学照明光反射装置，所述光学照明光反射装置设置在泵浦光源与泵浦光聚焦装置之间；

所述泵浦光源，用于输出泵浦光束，所述泵浦光束经过光学照明光反射装置透射后，再经过泵浦光聚焦装置聚焦在样品上；

所述探测光源，用于输出探测光束，所述探测光束经过探测光第一聚焦装置聚焦在样品上，且所述探测光束的聚焦光斑与泵浦光束的聚焦光斑重合；

所述光学照明光源，用于输出光学照明光束，所述光学照明光束依次经过光学照明光分束装置反射、光学照明光反射装置反射后，再经过泵浦光聚焦装置聚焦在样品上，且所述光学照明光束的聚焦光斑与泵浦光束和探测光束的聚焦光斑重合；从样品反射的光学照明光束依次经过泵浦光聚焦装置收集、光学照明光反射装置反射、光学照明光分束装置透射后，再经过成像透镜聚焦在成像装置上；

所述探测装置，用于接收从样品出射的探测光束，并对接收的探测光束传播特性的变化进行检测。

所述的基于光热检测和光学显微的光学材料缺陷实时成像装置，所述泵浦光源与光学照明光反射装置之间依次设有泵浦光斩波装置和泵浦光扩束装置。

所述的基于光热检测和光学显微的光学材料缺陷实时成像装置，所述探测光源与探测光第一聚焦装置之间设有探测光扩束装置，所述探测光第一聚焦装置与样品之间设有入射探测光偏转装置。

所述的基于光热检测和光学显微的光学材料缺陷实时成像装置，所述探测装置与样品之间设有出射探测光偏转装置。

所述的基于光热检测和光学显微的光学材料缺陷实时成像装置，所述探测装置包括依次设置的探测光第二聚焦装置、空间滤波装置、滤光装置和光电探测装置。

所述的基于光热检测和光学显微的光学材料缺陷实时成像装置，所述样品台配有调节装置，所述调节装置用于调节样品台的位置。

本实用新型的有益效果为：

由上述技术方案可知，本实用新型将光热检测技术和光学显微技术结合在一起，避免了传统的光热检测无法定位样品检测区域、光学显微无法识别材料内部缺陷的缺点，有效地弥补了单一模式检测的不足，实现了双模态、多参数、易定位的检测，有利于拓宽光热检测技术和光学显微技术的应用；同时，本实用新型中光热检测和光学显微利用同一聚焦装置，减少了器件数量，缩小了装置的体积，降低了成本。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是本实用新型所述的探测装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例进一步说明本实用新型。