[实用新型]用于圆棒材的缺陷检测设备及缺陷消除系统

权利要求书

1.一种用于圆棒材的缺陷检测设备，其特征在于，包括能绕所述圆棒材(3)的中轴线作旋转运动的第一检测装置(1)；

所述第一检测装置(1)包括同轴且顺次排布的第一凹面镜(12)、第一紫外线光源(11)、第一滤光片(13)和第一光学传感器(14)；

所述第一紫外线光源(11)，位于所述第一凹面镜(12)的焦点处；

所述圆棒材(3)，位于所述第一紫外线光源(11)和所述第一滤光片(13)之间，其中轴线与所述第一凹面镜(12)的主轴垂直相交，其预设直径小于经所述第一凹面镜(12)反射后形成的紫外平行光束的光斑直径；

所述第一滤光片(13)，用于滤除红外光和可见光，透射紫外光；

所述第一光学传感器(14)，用于检测所述紫外平行光束经所述圆棒材(3)部分遮挡且经所述第一滤光片(13)透射后形成的光斑图像，产生第一电阻值。

2.根据权利要求1所述的缺陷检测设备，其特征在于，所述第一光学传感器(14)为光敏电阻器。

3.根据权利要求1所述的缺陷检测设备，其特征在于，还包括第二检测装置(2)；

所述第二检测装置(2)包括同轴且顺次排布的第二凹面镜(22)、第二紫外线光源(21)、第二滤光片(23)和第二光学传感器(24)；

所述第二紫外线光源(21)，位于所述第二凹面镜(22)的焦点处；

所述圆棒材(3)，位于所述第二紫外线光源(21)和所述第二滤光片(23)之间，其中轴线与所述第二凹面镜(22)的主轴垂直相交，其预设直径小于经所述第二凹面镜(22)反射后形成的紫外平行光束的光斑直径；

所述第二滤光片(23)，用于滤除红外光和可见光，透射紫外光；

所述第二光学传感器(24)，用于检测所述紫外平行光束经所述圆棒材(3)部分遮挡且经所述第二滤光片(23)透射后形成的光斑图像，产生第二电阻值。

4.根据权利要求3所述的缺陷检测设备，其特征在于，所述第二检测装置(2)用于能绕所述圆棒材(3)的中轴线作旋转运动。

5.根据权利要求3所述的缺陷检测设备，其特征在于，所述第二光学传感器(24)为光敏电阻器。

6.一种用于圆棒材的缺陷消除系统，其特征在于，包括：权利要求1或2所述的缺陷检测设备(10)、电桥测量电路(20)、放大电路(30)和反馈控制电路(40)；

所述电桥测量电路(20)，与所述缺陷检测设备(10)连接，用于将所述缺陷检测设备(10)输出的电阻值转换成电压信号输出；

所述放大电路(30)，与所述电桥测量电路(20)连接，用于将所述电桥测量电路(20)输出的电压信号进行放大并输出；

所述反馈控制电路(40)，与所述放大电路(30)连接，用于根据所述放大电路(30)输出的电压信号进行分析处理，获得缺陷的凸起厚度值，并根据所述凸起厚度值产生反馈控制信号，以消除所述缺陷。

7.根据权利要求6所述的缺陷消除系统，其特征在于，所述电桥测量电路(20)包括第一电阻(R1)、第二电阻(R2)、第三电阻(R3)和第四电阻(R4)；

所述第一电阻(R1)，其一端与所述第四电阻(R4)的一端连接，接电源正极，其另一端与所述第二电阻(R2)的一端连接，作为所述电桥测量电路(20)的第一输出端；

所述第二电阻(R2)，其另一端与所述第三电阻(R3)的一端连接，接电源负极；

所述第三电阻(R3)，其另一端与所述第四电阻(R4)的另一端连接，作为所述电桥测量电路(20)的第二输出端；

所述第一电阻(R1)为所述第一光学传感器(14)，所述第二电阻(R2)、第三电阻(R3)和第四电阻(R4)的阻值不变。