[实用新型]一种横向沟槽结构的同位素电池有效

专利信息
申请号: 201520912516.3 申请日: 2015-11-16
公开(公告)号: CN205140532U 公开(公告)日: 2016-04-06
发明(设计)人: 谷文萍;高攀;张赞;张林 申请(专利权)人: 长安大学
主分类号: G21H1/06 分类号: G21H1/06
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 徐文权
地址: 710064 陕西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 横向 沟槽 结构 同位素 电池
【权利要求书】:

1.一种横向沟槽结构的同位素电池,其特征在于,包括由SiC基片构成的衬底(1),衬 底(1)上部设置有N型SiC外延层(2),所述N型SiC外延层(2)上设有若干个台阶,相 邻台阶之间设有沟槽,所述若干个台阶的顶部中间位置注入有N型SiC欧姆接触掺杂区(3), N型SiC欧姆接触掺杂区(3)上端设置有N型欧姆接触电极(5),所述N型欧姆接触电极(5) 两侧的台阶顶部位置上设置有α放射源(7);所述相邻台阶之间的沟槽底部设置有P型SiC 欧姆接触掺杂区(4),P型SiC欧姆接触掺杂区(4)的上部设置有P型欧姆接触电极(6)。

2.根据权利要求1所述的一种横向沟槽结构的同位素电池,其特征在于,所述N型SiC 外延层(2)上的台阶高度为5μm~15μm,台阶宽度为10μm~20μm,台阶之间的间距为2μm~5μm。

3.根据权利要求2所述的一种横向沟槽结构的同位素电池,其特征在于,所述N型SiC 外延层(2)的整体厚度为10μm~30μm。

4.根据权利要求1所述的一种横向沟槽结构的同位素电池,其特征在于,所述P型欧姆 接触电极(6)形状与所述P型SiC欧姆接触掺杂区(4)形状相同。

5.根据权利要求4所述的一种横向沟槽结构的同位素电池,其特征在于,所述P型SiC 欧姆接触掺杂区(4)和所述P型欧姆接触电极(6)的宽度均与台阶间距相同。

6.根据权利要求5所述的一种横向沟槽结构的同位素电池,其特征在于,所述P型欧姆 接触电极(6)包括从下而上依次设置的Ni层和Pt层构成,所述Ni层的厚度为200nm~400nm, 所述Pt层的厚度为50nm~200nm。

7.根据权利要求1所述的一种横向沟槽结构的同位素电池,其特征在于,所述N型欧姆 接触电极(5)的形状与所述N型SiC欧姆接触掺杂区(3)形状相同。

8.根据权利要求7所述的一种横向沟槽结构的同位素电池,其特征在于,所述N型SiC 欧姆接触掺杂区(3)和所述N型欧姆接触电极(5)的宽度均为0.5μm~2μm。

9.根据权利要求8所述的一种横向沟槽结构的同位素电池,其特征在于,所述N型欧姆 接触电极(5)包括从下而上依次设置的Ni层和Pt层,所述Ni层的厚度为200nm~400nm, 所述Pt层的厚度为50nm~200nm。

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