[实用新型]一种横向沟槽结构的同位素电池有效
申请号: | 201520912516.3 | 申请日: | 2015-11-16 |
公开(公告)号: | CN205140532U | 公开(公告)日: | 2016-04-06 |
发明(设计)人: | 谷文萍;高攀;张赞;张林 | 申请(专利权)人: | 长安大学 |
主分类号: | G21H1/06 | 分类号: | G21H1/06 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 徐文权 |
地址: | 710064 陕西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 横向 沟槽 结构 同位素 电池 | ||
1.一种横向沟槽结构的同位素电池,其特征在于,包括由SiC基片构成的衬底(1),衬 底(1)上部设置有N型SiC外延层(2),所述N型SiC外延层(2)上设有若干个台阶,相 邻台阶之间设有沟槽,所述若干个台阶的顶部中间位置注入有N型SiC欧姆接触掺杂区(3), N型SiC欧姆接触掺杂区(3)上端设置有N型欧姆接触电极(5),所述N型欧姆接触电极(5) 两侧的台阶顶部位置上设置有α放射源(7);所述相邻台阶之间的沟槽底部设置有P型SiC 欧姆接触掺杂区(4),P型SiC欧姆接触掺杂区(4)的上部设置有P型欧姆接触电极(6)。
2.根据权利要求1所述的一种横向沟槽结构的同位素电池,其特征在于,所述N型SiC 外延层(2)上的台阶高度为5μm~15μm,台阶宽度为10μm~20μm,台阶之间的间距为2μm~5μm。
3.根据权利要求2所述的一种横向沟槽结构的同位素电池,其特征在于,所述N型SiC 外延层(2)的整体厚度为10μm~30μm。
4.根据权利要求1所述的一种横向沟槽结构的同位素电池,其特征在于,所述P型欧姆 接触电极(6)形状与所述P型SiC欧姆接触掺杂区(4)形状相同。
5.根据权利要求4所述的一种横向沟槽结构的同位素电池,其特征在于,所述P型SiC 欧姆接触掺杂区(4)和所述P型欧姆接触电极(6)的宽度均与台阶间距相同。
6.根据权利要求5所述的一种横向沟槽结构的同位素电池,其特征在于,所述P型欧姆 接触电极(6)包括从下而上依次设置的Ni层和Pt层构成,所述Ni层的厚度为200nm~400nm, 所述Pt层的厚度为50nm~200nm。
7.根据权利要求1所述的一种横向沟槽结构的同位素电池,其特征在于,所述N型欧姆 接触电极(5)的形状与所述N型SiC欧姆接触掺杂区(3)形状相同。
8.根据权利要求7所述的一种横向沟槽结构的同位素电池,其特征在于,所述N型SiC 欧姆接触掺杂区(3)和所述N型欧姆接触电极(5)的宽度均为0.5μm~2μm。
9.根据权利要求8所述的一种横向沟槽结构的同位素电池,其特征在于,所述N型欧姆 接触电极(5)包括从下而上依次设置的Ni层和Pt层,所述Ni层的厚度为200nm~400nm, 所述Pt层的厚度为50nm~200nm。
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