[实用新型]芯片选型测试仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及芯片测试领域，具体的，涉及一种芯片选型测试仪。

背景技术

类型相似的芯片，如使用相同的存储空间结构和相似的数据排布结构，用肉眼往往很难判断出芯片的型号并进行选择，这时候就需要借助芯片测试仪进行芯片型号的检测。芯片测试仪通常能测试很多型号的芯片，传统测试仪的设计方法是设置有选型号的加/减按键，根据仪器面板或说明书上的型号表选定型号，然后再开始测试。这类的测试仪选型费时，如果型号过多，仪器面板还不一定能张贴到完整的型号表，另附一份型号表又不好保管，使用也不方便，仪器面板上专门多提供加/减键也影响了界面精简与美观，操作起来也麻烦。

发明内容

本实用新型的主要目的是提供一种能够自动读取芯片信息，判断芯片型号的芯片选型测试仪。

为了实现上述主要目的，本实用新型提供的芯片选型测试仪包括显示单元、存储单元和数据读取单元。此外，该测试仪还包括地址译码器和数据比较器。数据读取单元向地址译码器及数据比较器输出所读取的芯片型号数据，地址译码器将芯片型号数据翻译成地址信息并发送到存储单元，数据比较器接收并比较数据读取单元所读取的芯片型号数据及存储单元所存储的芯片参考型号数据，并将比较结果的信号发送到显示单元。

从上述方案可见，当所需测试芯片接入测试仪中时，测试仪利用数据读取单元将需要检测的芯片型号数据读取出来，芯片的型号数据接着同时被发送到地址译码器和数据比较器中，以待在地址译码器中被翻译和在数据比较器中用作比较数据。在地址译码器中，每种芯片的型号数据均被预先设置为某一固定的地址数据，当地址译码器接收到芯片的型号数据时，将其译成对应的地址数据，并发送到存储单元，以待存储单元读取参考型号数据并发送到数据比较器中。当数据比较器接收到数据读取单元所读取的芯片型号数据及存储单元的芯片参考型号数据时，数据比较器将两者进行比对，若两组数据一致，则在显示单元5中以字符形式显示出该芯片对应的型号，以便测试人员了解芯片的型号以及芯片数据是否完整和正确，并根据芯片的型号进行芯片选择。

进一步的方案中，芯片参考型号数据为存储在存储单元中且根据地址译码器翻译得到的地址信息所调取的数据。

由此可见，存储单元存储有多种芯片的型号数据，每种芯片的型号数据均被存储到固定的地址中，当存储单元接收到需要读取的地址数据时，将该地址对应的芯片参考型号数据调出，并发送到数据比较器中，作为比较数据。

具体的方案中，存储单元为非易失性存储器，显示单元为液晶显示屏。

从上述方案可见，测试仪使用非易失性存储器可长久的保存所存储的芯片型号数据，在断电的情况下也能保留数据，不易造成数据损失。采用液晶显示屏可以减少测试仪的体积，使得测试仪成本降低，且更加美观。

附图说明

图1是本实用新型实施例的结构框图。

以下结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明。

具体实施方式

如图1所示，本实施例的芯片选型测试仪具有数据读取单元1、地址译码器2、存储单元3、数据比较器4以及显示单元5。当需要检测芯片型号时，将芯片放入数据读取单元1，数据读取单元1为读取芯片数据的电路，可读取多种同类型的芯片型号数据，测试仪可利用数据读取单元1将需要检测的芯片型号数据读取出来，芯片的型号数据接着被发送到地址译码器2中，以待在地址译码器2中被翻译。

在地址译码器2中，每种芯片的型号数据均被预先设置为某一固定的地址数据，当地址译码器2接收到芯片的型号数据时，将其译成对应的地址数据，并发送到存储单元3，以待存储单元3读取参考型号数据。

存储单元3存储有多种芯片的型号数据，每种芯片的型号数据均被存储到固定的地址中，当存储单元3接收到需要读取的地址数据时，将该地址对应的芯片参考型号数据调出，并发送到数据比较器4中，作为比较数据。

从图中还可以看出，数据读取单元1除了向地址译码器发送数据外，还向数据比较器4发送所读取到的数据，所发送的型号信息数据在数据比较器4中用作比较数据。当数据比较器4接收到数据读取单元1所读取的芯片型号数据及存储单元3的芯片参考型号数据时，数据比较器4将两者进行比对，若两组数据一致，则在显示单元5中以字符形式显示出该芯片对应的型号；若两组数据不一致，则判断不通过，不显示被读芯片的型号）。