[实用新型]芯片选型测试仪有效
| 申请号： | 201520802401.9 | 申请日： | 2015-10-13 |
| 公开（公告）号： | CN205139315U | 公开（公告）日： | 2016-04-06 |
| 发明（设计）人： | 温禄泉;林东宁 | 申请（专利权）人： | 珠海天威技术开发有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 珠海智专专利商标代理有限公司 44262 | 代理人： | 林永协 |
| 地址： | 519060 广东省珠海市南屏科技工业*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 芯片 选型 测试仪 | ||
【权利要求书】：
1.一种芯片选型测试仪，包括显示单元、存储单元和数据读取单元，其特征在于：所述的芯片选型测试仪还包括地址译码器和数据比较器；
所述数据读取单元向所述地址译码器及所述数据比较器输出所读取的芯片型号数据；
所述地址译码器将所述芯片型号数据翻译成地址信息并发送到所述存储单元；
所述数据比较器接收并比较所述数据读取单元所读取的所述芯片型号数据及所述存储单元所存储的芯片参考型号数据，并将比较结果的信号发送到所述显示单元。
2.根据权利要求1所述的芯片选型测试仪，其特征在于：所述芯片参考型号数据为存储在所述存储单元中且根据所述地址译码器翻译得到的所述地址信息所调取的数据。
3.根据权利要求1或2所述的芯片选型测试仪，其特征在于：所述存储单元为非易失性存储器。
4.根据权利要求1或2所述的芯片选型测试仪，其特征在于：所述显示单元为液晶显示屏。
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