[实用新型]一种用于IPM和IGBT测试的适配器有效

专利信息
申请号: 201520397125.2 申请日: 2015-06-10
公开(公告)号: CN204760358U 公开(公告)日: 2015-11-11
发明(设计)人: 吴秀力 申请(专利权)人: 哈尔滨佳度科技发展有限公司
主分类号: H01L21/66 分类号: H01L21/66
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 150001 黑龙江省*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 ipm igbt 测试 适配器
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及半导体器件技术领域,尤其涉及一种在对IPM与IGBT进行测试时,使测试方式更方便,测试准确度更高的适配器。

背景技术

智能功率模块IPM(IntelligentPowerModule)和绝缘栅双极型晶体管IGBT(InsulatedGateBipolarTransistor)被广泛的应用于电力电子技术领域。由于IPM和IGBT的性能直接影响着电力电子设备的可维护性及可靠性,因此快速、方便、准确的测试IPM和IGBT的正常与否是非常有意义的工作。

但由于各种型号的IPM与IGBT外形结构存在一定的差异,在对其进行检测时,所需的适配器往往需要厂家进行定制,而且大多只能测试单一型号,很难兼容多种型号的IPM与IGBT;其次,这类适配器在与IPM和IGBT的引脚连接时,经常出现接触不牢固的问题;同时,以往的适配器往往外体积较大,多由金属制成,重量较沉,不易移动或携带。目前,国内还没有检测IPM与IGBT用的通用型适配器。

发明内容

为克服以上不足之处,本实用新型提出了一种新型的用于IPM和IGBT测试的适配器,具体为一种在检测时与IPM和IGBT进行电性连接,以测试IPM和IGBT状态的适配器。以解决现有技术中没有IPM及IGBT通用型适配器的技术难题。

为实现上述目的,本实用新型提供了一种新型IPM及IGBT测试用适配器,包括,探针式和插座式两种适配器。

探针式适配器采用了全新的探针式导向孔设计。在探针式适配器的上面板上分布有N组与待测模块引脚的位置相对应的导向孔,其中N=1/2/3/4。测试前选定与模块型号对应的导向孔,将待测模块放置在上面板上,确保引脚与导向孔一一对应,导向孔下方设有测试探针,测试时稍用力向下按压模块,模块引脚与探针准确接触,按下测试键即可在主机上得到模块的测试结果。

插座式适配器采用了全新的排列式插座设计。在插座式适配器上分布有N个连接插座,其中N=1/2/3/4,每一个插座都与一种型号的IPM或IGBT的引脚相对应,用于待测模块引脚的插入。测试时选定连接插座,再将待测模块的引脚准确的从连接插座的底部插入,按下测试键即可在主机上得到模块的测试结果。

进一步地,探针式适配器包括上板面(10)及下板面(20),两层之间的空间用于放置探针。

进一步地,探针式适配器的上板面分布有N组导向孔,其中N=1/2/3/4,为多列式矩形排列结构。

进一步地,探针式适配器的下板面用于固定探针的底部。

进一步地,探针式适配器的下板面还设有牛角插座。

进一步地,插座式适配器上分布有N个连接插座,其中N=1/2/3/4,为多列式直线排列结构。

进一步地,插座式适配器还设有牛角插座及针座。

本实用新型具有以下有益效果:

(1)兼容多种型号模块,成本降低。

本实用新型采用全新的探针式导向孔或连接插座式设计,在排列方式上,均采用多列式结构,有效到达了兼容多种型号模块的目的,改变了以往适配器只能测试单一型号模块的局面,使得检测成本大幅度降低。

(2)连接方式牢靠,结果准确。

由于本实用新型中的探针式适配器的测试探针与模块引脚接触方式为按压式的接触,插座式适配器与模块引脚接触方式为插入式接触,这两种连接方式在连接时都能够更加固定牢靠,使得测试结果一次即得,重复性低,准确性高。

(3)测试方法简单,节约时间。

本实用新型对现有适配器与模块的连接方法进行了简化,模块放置更为方便,无需任何其他运动机构,大大缩短了测试所需的时间,提高了测试效率。

(4)体积小重量轻,方便移动及携带。

本实用新型突破了以往箱式或台式适配器较为笨重的外型,体积小巧,重量降低,方便测试人员移动与携带,更可随时随地进行测试。

除了上面所描述的目的、特征和优点之外,本实用新型还有其它的目的、特征和优点。下面将参照附图,对本实用新型作进一步详细的说明。

附图说明

构成本申请的一部分的附图用来提供对本实用新型的进一步理解,本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型,并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中:

图1是本实用新型中探针式适配器的正面示意图;

图2是本实用新型中的探针式适配器与模块连接时的示意图;

图3是本实用新型中探针式适配器在使用中模块引脚与测试探针接触时的示意图;

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