[实用新型]继电器接触电阻测量装置有效

专利信息
申请号: 201520301063.0 申请日: 2015-05-11
公开(公告)号: CN204789761U 公开(公告)日: 2015-11-18
发明(设计)人: 李维;于雪峰;杨耀克;蒲启成 申请(专利权)人: 浙江正泰电器股份有限公司
主分类号: G01R27/14 分类号: G01R27/14
代理公司: 北京卓言知识产权代理事务所(普通合伙) 11365 代理人: 王茀智;龚清媛
地址: 325603 浙江省乐*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 继电器 接触 电阻 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种继电器接触电阻测量装置,包括继电器插座(1)和测量模块(5),其特征在于:所述的继电器插座(1)上开设有与继电器(4)的每个触点引脚分别对应设置且用于定位安装继电器(4)的插孔(110),所述的测量模块(5)包括至少一个可与插孔(110)相对应设置并与触点引脚对应连接的测量电路(540);

测量模块(5)还包括基准电压电路(510)和信号处理电路,所述的基准电压电路(510)可与触点引脚相连接并提供用于产生测量电压的基准电压,测量电路(540)的输入和输出分别与触点引脚及信号处理电路相连接,并且测量电路(540)可将检测到的测量电压的信号输入至信号处理电路从而完成测量判断。

2.根据权利要求1所述的继电器接触电阻测量装置,其特征在于:所述的信号处理电路包括至少一个分别与测量电路(540)对应连接的放大电路(530),每个放大电路(530)还分别与的电压比较电路(550)和指示电路(520)相连接,所述放大电路(530)的输入与测量电路(540)的输出相连接用于将基准电压电路(510)在触点引脚上产生的测量电压的信号进行放大处理,所述电压比较电路(550)的输入与放大电路(530)的输出相连接用于将比较电压信号与放大电压信号相比较,所述指示电路(520)的输入与电压比较电路(550)的输出相连接用于显示比较测量结果。

3.根据权利要求1所述的继电器接触电阻测量装置,其特征在于:所述的插孔(110)内还设有用于夹持安装触点引脚的金属簧片,所述的金属簧片与测量电路(540)的输入之间串联设有分压电阻。

4.根据权利要求1所述的继电器接触电阻测量装置,其特征在于:所述的基准电压电路(510)包括稳压芯片U1,所述稳压芯片U1的输入端Vin与输入电压VCC相连接,所述的输入电压VCC通过第二电容C2接地,稳压芯片U1的控制输入端ON/OFF和公共端GND分别接地,稳压芯片U1的输出端Vout通过二极管D1接地,稳压芯片U1的输出端Vout还与电感L1的一端相连接,所述电感L1的另一端是与稳压芯片U1的反馈输入端FeedBack相连接的基准电压输出端V5,并且基准电压输出端V5与地之间还并联设有第一电容C1、第三电容C3及第一发光二极管D6,所述的基准电压输出端V5可分别与触点引脚和信号处理电路相连接。

5.根据权利要求2所述的继电器接触电阻测量装置,其特征在于:所述的放大电路(530)包括第一运算放大器U2、第二运算放大器U3、第三运算放大器U4和第四运算放大器U5,所述第一运算放大器U2的正向输入端与测量电路(540)的测量输出端DET1相连接,第一运算放大器U2的正向输入端通过串联设置的第一电阻R1和第二电阻R3与基准电压电路(510)的基准电压输出端V5相连接,第一运算放大器U2的输出端分别与其反向输入端及第二运算放大器U3的正向输入端相连接,所述第二运算放大器U3的反向输入端通过第四电阻R21接地,第二运算放大器U3的输出端与其反向输入端之间还设有第五电阻R29,所述第三运算放大器U4的正向输入端与第二运算放大器U3的输出端相连接,第三运算放大器U4的反向输入端通过第六电阻R22接地,第三运算放大器U4的输出端与其反向输入端之间还设有第七电阻R30,所述第四运算放大器U5的正向输入端与第三运算放大器U4的输出端相连接,第四运算放大器U5的输出端与其反向输出端相连接,并且第四运算放大器U5的输出端与放大电路(530)的放大输出端DO1相连接,所述的放大输出端DO1与电压比较电路(550)相连接用于输出放大电压信号。

6.根据权利要求2所述的继电器接触电阻测量装置,其特征在于:所述的电压比较电路(550)包括第五运算放大器U6,所述第五运算放大器U6的正向输入端与放大电路(530)的放大输出端DO1相连接,第五运算放大器U6的反向输入端与电位器R37中间的引脚相连接,所述电位器R37两端的引脚分别与基准电压电路(510)的基准电压输出端V5和地相连接,第五运算放大器U6的输出端通过第九电阻R45与其正向输入端相连接,并且第五运算放大器U6的输出端与指示电路(520)的第二发光二极管D2相连接,比较电路(550)输入的放大电压信号可与电位器R37产生的比较电压信号进行比较并使得第二发光二极管D2导通。

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