[实用新型]一种适用于DO-214封装结构的二极管测试盒

说明书

技术领域

本实用新型涉及二极管检测技术领域，尤其涉及一种适用于DO-214封装结构的二极管测试盒。

背景技术

DO-214封装结构的SM系列二极管，由于没有专用于测试DO-214封装结构的SM系列产品(881测试系统)配套测试盒，目前测试时，一般是采用两个弹簧片组成的夹具固定产品进行通电测试，但由于弹簧片弹力过大会导致产品引脚损伤，容易形成引脚断裂质量问题，并且测试效率较低。

实用新型内容

本实用新型主要是解决现有技术中所存在的技术问题，从而提供一种不会导致产品引脚损伤且测试效率高的适用于DO-214封装结构的二极管测试盒。

本实用新型的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的：

本实用新型提供的适用于DO-214封装结构的二极管测试盒，包括盒体，所述盒体包括相互固定连接的上盒体和下盒体，所述下盒体的内部还设有一第一空腔，所述第一空腔内自下而上依次设有胶木板、电路板和插脚板，所述胶木板、电路板和插脚板之间相互固定连接，所述电路板上还设有一组引出线，所述引出线延伸至所述盒体的外部并与一外部的测试设备相连接，所述插脚板上还对称的设有两组插脚孔，以及还包括一夹具和两组测试插脚，所述夹具固定在所述上盒体的外表面，且用于夹持二极管，每组所述测试插脚的一端与所述二极管的一侧相连接，其另一端与所述插脚孔相配合，所述夹具包括上部本体和下部本体，所述下部本体与所述上盒体的外表面固定连接，所述上部本体的一端与所述下部本体的一端铰链连接，所述上部本体的另一端设有一卡扣，所述卡扣与所述下部本体的另一端相配合，以及所述下部本体内设有第二空腔，所述第二空腔用于放置所述二极管，所述上部本体的下表面还设有压块，所述压块用于夹紧所述二极管。

进一步地，所述压块的下表面还设有一缓冲层。

进一步地，所述第一空腔的底面还开设有多个散热孔，多个所述散热孔沿所述第一空腔的长度方向上平均分布。

进一步地，所述引出线伸出所述盒体的一端还设有香蕉头。

本实用新型的有益效果在于：通过夹具的压块和下部本体压住二极管的上下表面，避免了直接夹持二极管的引脚引起引脚损伤，并且将夹具固定在上盒体的外表面，使二极管的引脚通过测试插脚直接与插脚板和电路板相连接，其结构稳定，使用方便，且有效提高了测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型的适用于DO-214封装结构的二极管测试盒的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型的优选实施例进行详细阐述，以使本实用新型的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本实用新型的保护范围做出更为清楚明确的界定。

参阅图1所示，本实用新型的适用于DO-214封装结构的二极管测试盒，包括盒体，盒体包括相互固定连接的上盒体1和下盒体2，下盒体2的内部还设有一第一空腔3，第一空腔3内自下而上依次设有胶木板4、电路板5和插脚板6，胶木板4、电路板5和插脚板6之间相互固定连接，电路板5上还设有一组引出线7，引出线7延伸至盒体的外部并与一外部的测试设备相连接，插脚板6上还对称的设有两组插脚孔8，以及还包括一夹具和两组测试插脚9，夹具固定在上盒体1的外表面，且用于夹持二极管10，每组测试插脚9的一端与二极管10的一侧相连接，其另一端与插脚孔8相配合，夹具包括上部本体11和下部本体12，下部本体12与上盒体1的外表面固定连接，上部本体11的一端与下部本体12的一端铰链连接，上部本体11的另一端设有一卡扣13，卡扣13与下部本体12的另一端相配合，以及下部本体12内设有第二空腔14，第二空腔14用于放置二极管10，上部本体11的下表面还设有压块15，压块15用于夹紧二极管10。本实用新型通过夹具的压块15和下部本体12压住二极管10的上下表面，避免了直接夹持二极管10的引脚引起引脚损伤，并且将夹具固定在上盒体1的外表面，使二极管10的引脚通过测试插脚9直接与插脚板6和电路板5相连接，其结构稳定，使用方便，且有效提高了测试效率。