[实用新型]一种适用于DO-214封装结构的二极管测试盒有效

专利信息
申请号: 201520247121.6 申请日: 2015-04-22
公开(公告)号: CN204536488U 公开(公告)日: 2015-08-05
发明(设计)人: 潘昆;侯光碧;杜安波;杨秀伦;马绪;柯梅 申请(专利权)人: 中国振华集团永光电子有限公司(国营第八七三厂)
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 谷庆红
地址: 550018 贵州省*** 国省代码: 贵州;52
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摘要:
搜索关键词: 一种 适用于 do 214 封装 结构 二极管 测试
【权利要求书】:

1.一种适用于DO-214封装结构的二极管测试盒,包括盒体,所述盒体包括相互固定连接的上盒体(1)和下盒体(2),其特征在于:所述下盒体(2)的内部还设有一第一空腔(3),所述第一空腔(3)内自下而上依次设有胶木板(4)、电路板(5)和插脚板(6),所述胶木板(4)、电路板(5)和插脚板(6)之间相互固定连接,所述电路板(5)上还设有一组引出线(7),所述引出线(7)延伸至所述盒体的外部并与一外部的测试设备相连接,所述插脚板(6)上还对称的设有两组插脚孔(8),以及还包括一夹具和两组测试插脚(9),所述夹具固定在所述上盒体(1)的外表面,且用于夹持二极管(10),每组所述测试插脚(9)的一端与所述二极管(10)的一侧相连接,其另一端与所述插脚孔(8)相配合,所述夹具包括上部本体(11)和下部本体(12),所述下部本体(12)与所述上盒体(1)的外表面固定连接,所述上部本体(11)的一端与所述下部本体(12)的一端铰链连接,所述上部本体(11)的另一端设有一卡扣(13),所述卡扣(13)与所述下部本体(12)的另一端相配合,以及所述下部本体(12)内设有第二空腔(14),所述第二空腔(14)用于放置所述二极管(10),所述上部本体(11)的下表面还设有压块(15),所述压块(15)用于夹紧所述二极管(10)。

2.如权利要求1所述的适用于DO-214封装结构的二极管测试盒,其特征在于:所述压块(15)的下表面还设有一缓冲层(16)。

3.如权利要求2所述的适用于DO-214封装结构的二极管测试盒,其特征在于:所述第一空腔(3)的底面还开设有多个散热孔(17),多个所述散热孔(17)沿所述第一空腔(3)的长度方向上平均分布。

4.如权利要求1所述的适用于DO-214封装结构的二极管测试盒,其特征在于:所述引出线(7)伸出所述盒体的一端还设有香蕉头(18)。

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