[发明专利]一种用于自旋目标的单频雷达成像方法在审

专利信息
申请号: 201510983010.6 申请日: 2015-12-24
公开(公告)号: CN105353374A 公开(公告)日: 2016-02-24
发明(设计)人: 李胜;闫华;崔闪 申请(专利权)人: 北京环境特性研究所
主分类号: G01S13/89 分类号: G01S13/89
代理公司: 北京君恒知识产权代理事务所(普通合伙) 11466 代理人: 黄启行;张璐
地址: 100854*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 自旋 目标 雷达 成像 方法
【权利要求书】:

1.一种用于自旋目标的单频雷达成像方法,所述方法包括:

S1、将目标在所有方位角下的雷达回波划分为N个子孔径,对每个子孔径内的雷达回波作傅里叶变换,获取每个子孔径内散射强度的横向分布;

S2、对获取的N个子孔径内散射强度的横向分布进行RADON逆变换,重建目标的第一图像;

S3、根据重建的目标的第一图像,利用CLEAN算法重构目标的第二图像;

其中,N为大于0的自然数,并且假设在每个子孔径内多普勒频移不变。

2.如权利要求1所述的方法,其中,在步骤S1中,所述散射强度的横向分布为:

F(f,x)=Σm=1Mσmexp{j4πfc(m)}]]>

其中,F(f,x)为散射强度的横向分布,M为每个子孔径所包含的方位角的个数,f为雷达回波的载频,θm为子孔径所包含的第m个方位角,σm为第m个方位角下目标的后向散射系数,c为真空中的光速。

3.如权利要求1所述的方法,其中,步骤S3具体包括:

S31、在当前目标的第一图像中提取最大散射强度对应的位置坐标并记录第i个目标散射点的位置;其中,i为大于等于1的自然数;

S32、重构第i个目标散射点对应的单位散射幅度下的雷达回波T(f,θ),并根据最小范数准则估计所述第i个目标散射点的后向散射系数

T(f,θ)=exp{-j4πfc(x^isinθ+y^icosθ)}]]>

σ^=argminσ^||S(f,θ)-σ^T(f,θ)||]]>

其中,为第i个目标散射点的位置坐标,f为雷达回波的载频,θ为入射方位角,c为真空中的光速,S(f,θ)为当前目标的雷达回波;

S33、从当前目标的雷达回波S(f,θ)中去除第i个目标散射点的影响因子,获取S'(f,θ),以及对应于S'(f,θ)的回波能量I'(f,θ);

S(f,θ)=S(f,θ)-σ^T(f,θ);]]>

S34、当回波能量I'(f,θ)低于预设的门限阈值Ith时,利用记录的目标散射点的位置重构目标的第二图像。

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