[发明专利]元件的定位方法和系统

说明书

本发明涉及一种元件的定位方法和系统，利用待测元件的模板图和待测元件所在的待测图，获得模板图的颜色分布描述符，将模板图的灰度图和待测图的灰度图进行匹配得到匹配矩阵，并以其中元素值最小的元素对应的待测图中的像素点作为子图的一个顶点，在待测图中获取子图及其颜色分布描述符，再根据模板图的颜色分布描述符和子图的颜色分布描述符的匹配度来确定待测元件在待测图中的位置。以此方案可根据已知元件的图像，在待测图中定位元件的位置，定位准确，为对元件进行错，漏，反等检测提供了重要依据。

技术领域

本发明涉及自动光学检测领域，特别是涉及元件的定位方法和系统。

背景技术

当前，对PCB(印制电路板)板卡进行检测，使用较多的是AOI(自动光学检测)系统，其是利用光学方式取得待测物体的图像信息，然后使用图像处理算法对待测物体进行检测，检查出异物，瑕疵等错误。对于使用在PCB板卡检测的AOI系统中，需要对板卡上面的元件进行错，漏，反等检测。然而在插入的过程，或者上焊锡的过程中，元件可能会发生位移，即元件在板卡上面的位置并非都是固定不变的，所以在对元件进行错，漏，反等检测前，需要先对元件进行定位。

现在的AOI系统中，一般只会在固定的位置检测元件，而不会对元件进行定位，如此，对于偏移量较高的元件，如二极管，电容等，进行检测时，可能会因为待测区域中没有元件而导致检测错误。

发明内容

基于此，有必要针对元件发生位移导致检测错误的问题，提供一种元件的定位方法和系统。

一种元件的定位方法，包括以下步骤：

获取待测元件的模板图和对待测元件实际拍摄的待测图；

获取模板图的颜色分布描述符；

在待测图中获取与模板图相同大小的图片作为待测图的子图；

获取子图的颜色分布描述符；

计算模板图的颜色分布描述符和子图的颜色分布描述符之间的匹配度；

若匹配度小于第一阈值，则判定子图所在的位置为待测元件在待测图中所在的位置。

一种元件的定位系统，包括以下单元：

第一获取单元，用于获取待测元件的模板图和对待测元件实际拍摄的待测图；

第二获取单元，用于获取模板图的颜色分布描述符；

第三获取单元，用于在待测图中获取与模板图相同大小的图片作为待测图的子图；

第四获取单元，用于获取子图的颜色分布描述符；

计算单元，用于计算模板图的颜色分布描述符和子图的颜色分布描述符之间的匹配度；

判断单元，用于在匹配度小于第一阈值时，判定子图所在的位置为待测元件在待测图中所在的位置。

根据上述本发明的方案，其是利用待测元件的模板图和待测元件所在的待测图，获得模板图的颜色分布描述符，将模板图的灰度图和待测图的灰度图进行匹配得到匹配矩阵，并以其中元素值最小的元素对应的待测图中的像素点作为子图的一个顶点，在待测图中获取子图及其颜色分布描述符，再根据模板图的颜色分布描述符和子图的颜色分布描述符之间的匹配度来确定待测元件在待测图中的位置。以此方案可根据已知元件的图像，在待测图中定位元件的位置，定位准确，为对元件进行错，漏，反等检测提供了重要依据。

附图说明

图1是其中一个实施例中元件的定位方法的流程图；

图2是其中一个实施例中元件的定位方法的流程图；

图3是其中一个实施例中元件的定位方法的流程图；