[发明专利]图像修补方法和图像修补装置有效

专利信息
申请号: 201510717939.4 申请日: 2015-10-29
公开(公告)号: CN106651776B 公开(公告)日: 2019-08-30
发明(设计)人: 李马丁;夏思烽;刘家瑛;郭宗明 申请(专利权)人: 北京大学;北大方正集团有限公司;北京北大方正电子有限公司
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G06T3/40
代理公司: 北京友联知识产权代理事务所(普通合伙) 11343 代理人: 尚志峰;汪海屏
地址: 100871*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 图像 修补 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种图像修补方法,其特征在于,包括:

确定待修补图像中包含有未知像素点的至少一个缺失块;

对于所述至少一个缺失块中的任一缺失块,聚类得到所述任一缺失块的相似块,以形成由所述任一缺失块聚类得到的类;

根据由所述任一缺失块聚类得到的类,构成具有低秩性质的矩阵;

采用核范数逼近所述矩阵的秩,并采用奇异值阈值的方法对所述矩阵进行求解;

根据对所述矩阵求解后的值,对所述待修补图像中的所述任一缺失块进行修补。

2.根据权利要求1所述的图像修补方法,其特征在于,聚类得到所述任一缺失块的相似块的步骤,具体包括:

对所述待修补图像进行多层下采,以得到多个下采图像;

在所述待修补图像和所述多个下采图像中聚类得到所述任一缺失块的相似块。

3.根据权利要求2所述的图像修补方法,其特征在于,在所述待修补图像和所述多个下采图像中聚类得到所述任一缺失块的相似块的步骤之前,还包括:

在对所述待修补图像进行多层下采的过程中,若所述下采图像中包含有丢失的像素点,则判断是否能够在进行下采操作前的图像中找到与所述下采图像中丢失的像素点对应的像素点周围未丢失的像素点;

在判定能够找到所述未丢失的像素点时,通过所述未丢失的像素点的均值对所述下采图像中丢失的像素点进行初始化;以及

在判定不能够找到所述未丢失的像素点时,通过双线性插值的方法对所述下采图像中丢失的像素点进行初始化。

4.根据权利要求1所述的图像修补方法,其特征在于,聚类得到所述任一缺失块的相似块的步骤,具体包括:

在所述待修补图像中聚类得到所述任一缺失块的相似块。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的图像修补方法,其特征在于,根据对所述矩阵求解后的值,对所述待修补图像中的所述任一缺失块进行修补的步骤,具体包括:

将所述矩阵求解后得到的块放置在所述任一缺失块所在的区域,以对所述任一缺失块进行修补。

6.一种图像修补装置,其特征在于,包括:

确定单元,用于确定待修补图像中包含有未知像素点的至少一个缺失块;

聚类单元,用于对于所述至少一个缺失块中的任一缺失块,聚类得到所述任一缺失块的相似块,以形成由所述任一缺失块聚类得到的类;

矩阵生成单元,用于根据由所述任一缺失块聚类得到的类,构成具有低秩性质的矩阵;

处理单元,用于采用核范数逼近所述矩阵的秩,并采用奇异值阈值的方法对所述矩阵进行求解;

修补单元,用于根据所述处理单元对所述矩阵求解后的值,对所述待修补图像中的所述任一缺失块进行修补。

7.根据权利要求6所述的图像修补装置,其特征在于,所述聚类单元包括:

采样单元,用于对所述待修补图像进行多层下采,以得到多个下采图像;

执行单元,用于在所述待修补图像和所述多个下采图像中聚类得到所述任一缺失块的相似块。

8.根据权利要求7所述的图像修补装置,其特征在于,还包括:

判断单元,用于在对所述待修补图像进行多层下采的过程中,若所述下采图像中包含有丢失的像素点,则判断是否能够在进行下采操作前的图像中找到与所述下采图像中丢失的像素点对应的像素点周围未丢失的像素点;

初始化单元,用于在所述判断单元判定能够找到所述未丢失的像素点时,通过所述未丢失的像素点的均值对所述下采图像中丢失的像素点进行 初始化,并用于在所述判断单元判定不能够找到所述未丢失的像素点时,通过双线性插值的方法对所述下采图像中丢失的像素点进行初始化。

9.根据权利要求6所述的图像修补装置,其特征在于,所述聚类单元具体用于:

在所述待修补图像中聚类得到所述任一缺失块的相似块。

10.根据权利要求6至9中任一项所述的图像修补装置,其特征在于,所述修补单元具体用于:

将所述矩阵求解后得到的块放置在所述任一缺失块所在的区域,以对所述任一缺失块进行修补。

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