[发明专利]一种控制芯片进入不同模式的方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及芯片模式控制技术领域，尤其涉及一种控制芯片进入不同模式的方法及装置。

背景技术

一般，集成芯片(IC)都有多种工作模式，如测试模式、烧录模式等。因此，集成芯片上一般都设有多个特定的引脚，如测试脚、烧录脚等，通过这些特定的引脚可以控制集成芯片进入相应的工作模式。

但这种传统的芯片工作模式控制方法需要在芯片上设置多个特定的引脚，一个特定的引脚可以控制芯片进入一种工作模式，这种控制方法既浪费时间又浪费资源。

发明内容

本发明的目的在于提供一种控制芯片进入不同模式的方法，旨在解决传统的芯片工作模式控制方法既浪费时间又浪费资源的问题。

本发明是这样实现的，一种控制芯片进入不同模式的方法，所述控制芯片进入不同模式的方法包括：

判断所述芯片第一输入输出脚和第二输入输出脚的状态；

根据所述第一输入输出脚和所述第二输入输出脚的状态控制所述芯片进入相应的模式。

进一步的，根据所述第一输入输出脚和所述第二输入输出脚的状态进入相应的模式具体为：

若所述第一输入输出脚和所述第二输入输出脚均为高电平，控制所述芯片进入正常启动模式；

若所述第一输入输出脚为高电平，所述第二输入输出脚为低电平，控制所述芯片进入烧录模式；

若所述第一输入输出脚为低电平，控制所述芯片进入初始测试模式。

进一步的，在若所述第一输入输出脚为低电平，所述芯片进入初始测试模式之后，所述方法还包括：

判断所述芯片是否是第一次上电，若判断为否，则控制所述芯片进入正常启动模式；

若判断为是，则判断所述第二输入输出脚的状态；

根据所述第二输入输出脚的状态控制所述芯片进入相应的模式。

进一步的，所述判断所述第二输入输出脚的状态，根据所述第二输入输出脚的状态控制所述芯片进入相应的模式具体为：

若所述第二输入输出脚持续为高电平，控制所述第二输入输出脚一直处于等待状态；

若所述第二输入输出脚为低电平，控制所述芯片进入测试选择模式。

进一步的，在控制所述芯片进入测试选择模式之后，所述方法还包括：

判断所述第一输入输出脚的状态；

根据所述第一输入输出脚的状态，控制所述芯片进入相应的模块，具体为：

若所述第一输入输出脚为高电平，控制所述芯片进入板上测试模式；

若所述第一输入输出脚为低电平，控制所述芯片进入量产测试模式。

本发明的另一目的还在于提供一种控制芯片进入不同模式的装置，所述控制芯片进入不同模式的装置包括：

第一判断模块，用于判断所述芯片第一输入输出脚和第二输入输出脚的状态；

第一模式控制模块，用于根据所述第一输入输出脚和所述第二输入输出脚的状态控制所述芯片进入相应的模式。

进一步的，所述模式控制模块包括：

第一模式选择单元，用于若所述第一输入输出脚和所述第二输入输出脚均为高电平，控制所述芯片进入正常启动模式；

第二模式选择单元，用于若所述第一输入输出脚为高电平，所述第二输入输出脚为低电平，控制所述芯片进入烧录模式；

第三模式选择单元，用于若所述第一输入输出脚为低电平，控制所述芯片进入初始测试模式。

进一步的，所述控制芯片进入不同模式的装置还包括：

第二判断模块，用于判断所述芯片是否是第一次上电，若判断为否，则所述芯片进入正常启动模式；

第三判断模块，用于当所述第二判断模块判断为是时，判断所述第二输入输出脚的状态；

第二模式控制模块，用于根据所述第二输入输出脚的状态控制所述芯片进 入相应的模式。

进一步的，所述第二模式控制模块包括：

第四模式选择单元，用于若所述第二输入输出脚持续为高电平，控制所述第二输入输出脚一直处于等待状态；

第五模式选择单元，用于若所述第二输入输出脚为低电平，控制所述芯片进入测试选择模式。

进一步的，所述控制芯片进入不同模式的装置还包括：

第四判断模块，用于判断所述第一输入输出脚的状态；

第三模式控制模块，用于根据所述第一输入输出脚的状态，控制所述芯片进入相应的模块；

所述第三模式控制模块包括：

第六模式选择单元，用于若所述第一输入输出脚为高电平，控制所述芯片进入板上测试模式；